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| 產地 | 國產 | 加工定制 | 是 |
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UV-A 紫外輻照計
UV-A 紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過光譜及角度性校正，性能穩定，適用性強。該儀器適用于光化學、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。
波長范圍λ1，峰值波長λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 用戶二選一 |
波長范圍λ2，峰值波長λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外帶外區雜光 | 0.02% |
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相對示值誤差 | ±8％（相對于NIM標準） |
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角度響應特性 | ±5% （α≤10°） |
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線性誤差 | ±1% |
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換檔誤差 | ±1% |
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短期不穩定性 | ±1%（開機30min后） |
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疲勞特性 | 衰減量<2% |
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零值誤差 | 滿量程的±1% |
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響應時間 | <1秒 |
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使用環境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
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整機功耗 | ＜0.1VA |
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