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　　便攜x射線熒光光譜儀既可用于材料的組成成分分析，也可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等，很多人都知道，XRF分析儀是通過X射線管產生入射X射線來激發樣品的。那么，這種XRF分析儀會對被檢測物造成傷害嗎?下面贏洲科技小編帶您詳細了解一下。

　　工作原理：

　　X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量或者波長。

　　然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。

　　此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長(或能量)分開，分別測量不同波長(或能量)的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X熒光光譜儀。

　　使用該儀器會對被檢測物造成傷害嗎?

　　正確使用便攜x射線熒光光譜儀一般不會對被測物造成傷害的，X射線是可控的，不會輕易脫離控制的。比較推薦的是奧林巴斯X射線熒光光譜儀，是由無損檢測元素組成的技術，對產品的損傷幾乎為零，所以在操作的時候*不用擔心。設備使用起來也很不錯，通過可選無線局域網和藍牙功能，可以連接到云或其他設備，并且還具有嵌入式GPS，能將檢測結果與精準的GPS坐標配對，以此來記錄并繪制元素的位置。

　　X射線熒光光譜儀能夠分析元素周期表中的大部分元素，具體而言，從鈉元素(原子序數Z=11)到鈾元素(原子序數Z=92)都可以利用這種技術進行檢測分析。但是對于原子序數較低的元素(鈦元素Ti，Z=22以下)，空氣會對檢測結果產生較大影響;由低原子序數元素產生的熒光值通常更低，并且樣品基體中的其它元素有可能會吸收低原子序數元素的能量輻射。

　　通常情況下，用于提高低原子序數元素的檢測靈敏度的方法主要為將儀器的樣品室抽成真空環境或者以氦氣(He)沖洗樣品室。

　　以上就是關于“奧林巴斯XRF分析儀會對被檢測物造成傷害嗎"的相關解答，如需了解更多關于XRF分析儀的應用，可聯系贏洲科技(上海)有限公司。