這款納米掃描電鏡SEM-20是臺(tái)式掃描電鏡,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)電鏡應(yīng)用。
納米尺納米掃描電鏡SEM-20納米世界,幫助用戶在納米微觀世界研究中保持優(yōu)勢(shì),為高校和科研單位提供了這款精確而快速的高分辨率臺(tái)式掃描電鏡。
納米掃描電鏡SEM-20獲取高質(zhì)量微觀圖像
SEM幫助客戶在幾分鐘內(nèi)獲得微米和納米尺度圖像,臺(tái)式掃描電鏡尺寸提高了實(shí)驗(yàn)室的空間使用率,SEM是幫助科學(xué)教師對(duì)學(xué)生進(jìn)行直觀解釋的工具，SEM對(duì)中小型工業(yè)企業(yè)也比較實(shí)惠，我們承諾使用SEM精確測(cè)量納米世界。
納米掃描電鏡SEM-20廣泛應(yīng)用
材料分析
EM幫助掌握材料特性，提供精確的圖像。SEM可以分析深亞微米或納米結(jié)構(gòu)。
由壓力引起的材料的改變，熱可以用掃描電鏡檢測(cè)。從SEM得到的高景深和高質(zhì)量的圖像是尋找各種材料缺陷和變化的方案。
藥物化學(xué)
在研究領(lǐng)域中，藥物化學(xué)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)和尺寸不斷縮小，達(dá)到納米級(jí)。SEM可以精確地觀察納米樣品，并最終幫助研究人員得到所需的精確輸出。
質(zhì)量控制
通過(guò)對(duì)SEM具有高質(zhì)量的圖像，可以精確地發(fā)現(xiàn)微小缺陷。用掃描電鏡可以探測(cè)到難以用光學(xué)顯微鏡發(fā)現(xiàn)的深亞微米裂紋。用掃描電鏡檢查可以發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程中存在的問(wèn)題，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量。
教育教學(xué)
SEM帶領(lǐng)學(xué)生進(jìn)入了科學(xué)的納米世界，而這在學(xué)校里并沒(méi)有被真正的看待?，F(xiàn)在，數(shù)字應(yīng)用如細(xì)胞、昆蟲、花粉、金屬質(zhì)地、法醫(yī)物證等都適用于掃描電鏡。
這個(gè)工具可以培養(yǎng)學(xué)生對(duì)納米世界的好奇心，幫助發(fā)現(xiàn)學(xué)生的才能。
放大倍率：20X~80000X
有效放大：40000X
分辨率：7nm (20KV SE圖像）
加速電壓：1KV-20KV (1/3/5/10/15/20KV)
電子槍：Tungsten Flarment (W)
探測(cè)器： 標(biāo)配SE探測(cè)器（BSE/EDS探測(cè)器可選）
樣品臺(tái)：X: 35mm, Y:35mm, R:360度旋轉(zhuǎn)，Z:0-60mm
樣品大小：70mm直徑，45mm長(zhǎng)度
圖像模式：RED(320X240), TV(640x480), Slow (800x600)
Phto(1280x960, 2560x1920, 5120x3840)
拍攝幀頻：RED ( 30 幀/秒), TV ( 10 幀/秒), Slow(2幀/秒)
真空系統(tǒng)：Turbo Molecular Pump
自動(dòng)功能：Start,Focus,Filament,Brightness/contrast
操作系統(tǒng)：windows7
尺寸：400(W) x 600(L)x 550(H)mm
重量：90kg 納米掃描電鏡SEM-20具有電動(dòng)控制的樣品臺(tái)，方便用戶精密定位樣品樣品。
納米掃描電鏡SEM-20具有自動(dòng)聚焦功能，方便 用戶快速獲得高質(zhì)量SEM圖像
納米掃描電鏡SEM-20具有多模式圖像處理功能，方便用戶獲得高質(zhì)量SEM圖像。會(huì)員1.png)
