高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競爭力的掃描電鏡價格,廣泛用于科研單位使用。
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200易于使用
操作容易,方便使用。一般的學生閱讀操作手冊后即可獨立使用，很容易獲得高質量SEM圖像。
初學者在短時間內就可了解到如何獲得質量的SEM圖像,只需要通過點擊鼠標就可以進行自動操作。它看起來和地圖導航一樣方便引導用戶獲得高質量SEM圖像。一般的在10分鐘內就可獲得高質量的SEM圖像。
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有*的5軸自動位移臺系統(X,y . Z,T,R) 方便用戶操作。!
用戶可以通過在屏幕上的圖片就可操作自動樣品臺移動樣品
滾動鼠標轉輪即可在計算機上放大圖像或縮小圖像
支持5種顯示模式，用戶可以獲得想要的各種形狀。
支持高質量的圖像，達5,120 X 3840像素
支持直方圖功能，幫助用戶獲得更珍貴的圖片。
支持用戶定義熱鍵便可以在短時間內實現經常使用的功能
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200規格參數
放大倍率：15X~300.000X
有效放大：100,000X
分辨率：3nm (30KV SE圖像）
電子槍：Tungsten Flarment (W)
探測器： 標配SE探測器（BSE/EDS探測器可選）
樣品臺：X: 40mm電動, Y:60mm電動, R:360度旋轉，Z:0-60mm , T:-20~90度電動可調
樣品大小：130mm直徑，65mm長度
圖像模式：RED(320X240), TV(640x480), Slow (800x600)
Phto(1280x960, 2560x1920, 5120x3840)
拍攝幀頻：RED ( 30 幀/秒), TV ( 10 幀/秒), Slow(2幀/秒)
真空系統：Turbo Molecular Pump
自動功能：Start,Focus,Filament,Brightness/contrast
操作系統：windows7
尺寸：770(W) x 880(L)x 1500(H)mm
重量：400kg
