環境壓力光電子發射光譜儀系統是為大氣環境下光電子能譜測量設計的光電子能譜儀器,Photoemission Spectroscopy,通過空氣中的光電發射測量材料的功函數,不需要真空,具有英國和。
環境壓力光電子發射光譜儀系統在3.4eV到7.0 eV的激發范圍內能夠測量金屬的功函數(精度:0.05 eV)和半導體的電離電位,同時使用開爾文探針測量表面費米能級(精度:0.001 eV)。
隨著表面光電壓(SPV)和表面光電壓譜(SPS)的加入,
環境壓力光電子發射光譜儀系統可以測量半導體的全波段。
環境壓力光電子發射光譜儀系統特點空氣中光電效應的功函數
態密度測量
3.4 eV至7.0 eV能量范圍
所有半導體帶的測量
用開爾文探針測量接觸電位差
環境壓力光電子發射光譜儀系統應用有機和非有機半導體
金屬和金屬合金
薄膜和表面氧化物
太陽能電池與有機光伏
腐蝕與納米技術
環境壓力光電子發射光譜儀系統規格參數規格參數 | APS01 | APS02 | APS03 | APS04 |
開爾文探針三軸掃描功能 | | ? | ? | ? |
表面光電壓(SPV) | | | ? | ? |
表面光電壓譜(SPS) | | | | ? |
針尖Tip材料 / 直徑 | 2 mm gold tip |
CPD分辨率 | 1 - 3 meV |
高度控制 (自動) | 25 mm 自動 |
開爾文探針模式和PE模式 | CPD 和光發射測量 |
CPD 測量時間 | CPD 測量時間 <1分鐘 |
PE分辨率 | 全部光電子發射測量 |
WF 測量時間 | PE測量 <5分鐘 |
DOS 測量 | Full access to DOS information |
光學系統 | 彩色相機帶ZOOM放大,監測定位 |
示波器 | 數字TFT示波器用于實時信號 |
測量樣品 | 金, 鋁 ,銀等 |
法拉第外殼底座 (mm) | 450 x 450 mm 法拉第外殼 |
控制系統 | 計算機控制,標配軟件 |
已經申請的 | US:8866505 / GB:2439439 / GB:2495998 / EU:2783205 / JP:6018645 |