碳納米管的透射電子顯微鏡（TEM）圖像，深色區(qū)域?yàn)榻饘兕w粒，附著在無定形石墨材料和長單壁碳納米管上
測(cè)量碳納米管上的金屬含量是一項(xiàng)極大的挑戰(zhàn)。XRF 大的缺陷是它測(cè)量的是樣品的金屬總量，而不是單根或若干根碳納米管上的金屬。TEM 可以測(cè)量單根碳納米管上的金屬或納米粒子，但過程十分緩慢冗長，一天之內(nèi)只能測(cè)量少數(shù)幾個(gè)碳納米管樣品。傳統(tǒng)的 ICP-OES 和 ICP-MS 分析缺陷是它們需要*消解碳納米管，而鑒于其化學(xué)惰性，這將是一項(xiàng)巨大的挑戰(zhàn)。
單顆粒 ICP-MS（SP-ICP-MS），無需樣品消解，通過監(jiān)測(cè)瞬態(tài)金屬信號(hào)即可實(shí)現(xiàn)金屬量的半定量測(cè)量。SP-ICP-MS 還可以在一分鐘之內(nèi)分別對(duì)上千根碳納米管進(jìn)行快速測(cè)量，從而預(yù)估粒子的個(gè)數(shù)和含量。
本文介紹了單壁碳納米管（SWCNT）中釔（Y）（一種常用催化劑）的 SP-ICP-MS 測(cè)定方法。
樣品
單壁碳納米管是從溶液（Riverside，CA）中獲取的，為粉末狀。
儀器
NexION 2000 ICP-MS
實(shí)驗(yàn)結(jié)果
圖2 顯示了 Y 的 SP-ICP-MS 信號(hào)，其中每個(gè)信號(hào)峰代表一根單壁碳納米管的 Y 信號(hào)。隨著過濾孔徑的越來越小，越來越少的碳納米管可以通過濾膜，因此 Y 信號(hào)越來越小。這說明 Y 納米粒子與碳納米管結(jié)合在一起，當(dāng)碳納米管出現(xiàn)時(shí)，可以觀察到 Y 信號(hào)，當(dāng)碳納米管被濾除時(shí)，Y 信號(hào)消失。
使用 Syngisitx 操作軟件納米模塊，可自動(dòng)計(jì)算分析中的峰數(shù)，顯示本底脈沖和 Y 所生成脈沖的強(qiáng)度均值和中值。信號(hào)積分則反映出了單壁碳納米管中的金屬總量。該數(shù)值同使用酸消解后的樣品信號(hào)，是一致的。
結(jié)論
使用SP-ICP-MS技術(shù)，可在無需消解碳納米管（一個(gè)冗長繁瑣的過程）的情況下準(zhǔn)確量化碳納米管中的金屬雜質(zhì)。使用金屬雜質(zhì)的含量可以推測(cè)單壁碳納米管的計(jì)數(shù)濃度，有效拓展了 ICP-MS 在納米材料領(lǐng)域的應(yīng)用。
想要了解更多詳情，請(qǐng)掃描二維碼下載完整的應(yīng)用報(bào)告。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員1.png)
立即詢價(jià)
您提交后，專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)