上海屹持光電技術有限公司
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| 產地 | 進口 | 加工定制 | 否 |
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上海屹持光電提供的磁光克爾綜合測試平臺Kerr Microscope按照性能優先，穩定性優先的設計思路，可以滿足實驗室研究及工業生產 中各種相關材料的測試需求。標準設備中提供了磁場激勵、電流激勵等多種選項，是客戶在自旋特性研究中的得力測試平臺。更多的選項可以根據客戶需求選擇升級。
磁光克爾綜合測試平臺Kerr Microscope
自旋電子學經過數十年的發展，在許多領域都有了*的表現。從傳感器，到 非易失性磁存儲，再到新材料的特性研究，自旋電子學不僅是當前科學研究的熱點，也被工業界廣泛重視。磁疇的直接觀測與記錄，對于材料的研究有著重要的意義；對磁疇運動過程的剖析，不僅直觀的展現了磁性翻轉，而且有助于分析物理過程的機理。相較于傳統的單點磁滯回線測量儀，光磁克爾綜合測試平臺，可以追蹤平面內數百萬點的實時磁性動態信息。結合該測試平臺提供的直流探針，高頻探針，樣品的測試無比的便捷。
當下自旋電子學或磁學的研究，已經由磁性驅動的翻轉，發展到了直流電流驅動、脈沖電流驅動、微波脈沖驅動、光驅動等一系列的激勵源作用下的深度研究。上海屹持光電提供的標準系統按照性能優先，穩定性優先的設計思路，可以滿足實驗室研究及工業生產 中各種相關材料的測試需求。標準設備中提供了磁場激勵、電流激勵等多種選項，是客戶在自旋特性研究中的得力測試平臺。更多的選項可以根據客戶需求選擇升級。
光磁克爾綜合測試平臺產品特點
1. 高質量磁疇成像
2. 多激勵源/多功能測試平臺
3. 高穩定性，操作便捷
光磁克爾綜合測試平臺系統升級模塊 (基本型)
1. 低溫系統
2. 集成激光激勵
3. ST-FMR
4. 面內任意角度矢量電磁鐵
光磁克爾綜合測試平臺系統升級模塊 (高級型)
1. 矢量成像
2. 低溫+真空+腔內探針
光磁克爾綜合測試平臺技術參數
設備平臺 | 氣動懸浮光學平臺 |
光學主體 | 卡爾蔡司顯微鏡主體，目鏡+相機觀測可切換，高精度自動檢偏模組，高 |
系統光源1 | 高功率智能光源模塊，入射角、波長、亮度、頻率分區可控，多色彩光源 |
磁場2 | 垂直磁場（高 1.2 T） 面內磁場（高 0.8 T） |
電學儀表3 | Keithley 6221, Keithley 2400, Tetronics 微波源 |
探針 | DC，高頻探針，按照客戶需求選配 |
占地面積（含機柜）4 | 2000 mm * 1500 mm |
備注:
1 光源模組為托托光電磚唎產品。
2 磁場強度、類型、維度可定制，請聯系技術服務。
3 設備可配置多種電學儀表，如有特殊要求，請聯系技術服務。
4 設備尺寸依照客戶定制需求會有較大差異。
應用示例
鐵磁性/亞鐵磁性薄膜
電流驅動的磁性翻轉
二維材料的自旋特性研究
磁光克爾綜合測試平臺安裝要求
溫度 | 20 – 30° |
濕度 | RH< 60 % |
電源 | 220 V, 50 Hz |
磁光克爾綜合測試平臺Kerr Microscope
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