美國GE超聲波探傷儀探頭如何選擇？用于測試材料特性例如利用縱波橫波聲速計算彈性模量。 G…N，G…KB，G…K型
各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。 G…K型為Microdot接頭。適合測量縱波聲速。 SM-P…型各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個磁環可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測量螺栓應力。 K…NY，K…KY型
高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測量橫波聲速，適用于精密測厚儀。注釋：如有需要，橫波和縱波晶片可以同時封裝在一個外殼里。例 如 可 以 用 來 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。 Z20m型20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測量硬化層深度。
注釋：硬化層和未硬化層之間的結構突變是測量的先決條件。參見SD284。 Z10M型10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測量。
