絕緣電阻（IR）測試是在20世紀早期開發(fā)的，是評估絕緣質(zhì)量的古老和廣泛使用的測試。絕緣電阻測試是電氣安全測試標準要求的第二次測試。絕緣電阻測試包括測量被測器件的絕緣電阻，同時相和中性點短路。測得的阻力必須高于標準的指示限值。兆歐表（也稱為絕緣電阻測試儀）用于在極大穩(wěn)定性的直流電壓下測量絕緣體的歐姆值。
絕緣不能，就像某些東西不能無摩擦一樣。這意味著總會有一點電流通過。這被稱為“漏電流”。良好的絕緣性是可以接受的，但如果絕緣性能下降，泄漏可能會引發(fā)麻煩。是什么讓“好”絕緣？那么，它需要高電阻，并且需要能夠長時間保持高電阻
為什么絕緣電阻測試完成？
絕緣材料一旦開始老化就開始老化。隨著老化，其絕緣性能下降。任何惡劣的安裝環(huán)境，尤其是溫度和/或化學污染的環(huán)境，都會加速這一過程。這種磨損會降低絕緣材料的電阻率，從而增加泄漏電流，從而導致在安全（人員和財產(chǎn)）和生產(chǎn)停工成本方面可能嚴重的事故。因此，快速識別這種惡化很重要，這樣才能采取糾正措施。除了在調(diào)試期間對新設備和翻新設備進行的測量外，對設備和設備進行定期絕緣測試有助于通過預防性維護來避免此類事故。
該測試通常用作客戶驗收測試，通常由客戶的每單位長度的小絕緣電阻。從IR測試中獲得的結(jié)果不是用于在真正的HIPOT測試中找到絕緣中的局部缺陷，而是提供用作絕緣材料的散裝材料的質(zhì)量的信息。電線和電纜制造商使用絕緣電阻測試來跟蹤其絕緣制造工藝，并在工藝變量超出允許限制之前發(fā)現(xiàn)問題。
為什么萬用表不用于測量絕緣電阻？
雖然萬用表和兆歐表之間存在一定程度的相似性，但絕緣電阻是使用兆歐表（或類似設備）測量的，因為它能夠產(chǎn)生高電壓，在絕緣體中產(chǎn)生應力矩。絕緣電阻通常以兆歐或兆歐計算。
總之，萬用表測量導體（線圈）的電阻，而兆歐表測量隔離組（兩個線圈相對于質(zhì)量）的絕緣電阻，這是萬用表無法做到的。
如何測量絕緣電阻？
使用IR測試儀進行絕緣電阻測量。這是一種便攜式工具，或多或少是歐姆表，內(nèi)置發(fā)電機，用于產(chǎn)生高直流電壓。電壓通常至少為500V，并使電流繞絕緣表面流動。這給出了以歐姆為單位的IR讀數(shù)。
絕緣電阻測量基于歐姆定律。（R = V / I）。通過注入低于電介質(zhì)測試電壓的已知DC電壓然后測量電流，可以非常簡單地確定電阻值。原則上，絕緣電阻的值非常高但不是無窮大，因此通過測量流過的低電流，兆歐表指示絕緣電阻值，提供kW，MW，GW和TW（在某些型號上）的結(jié)果。該電阻表征了兩個導體之間的絕緣質(zhì)量，并很好地指示了漏電流的風險。
好吧，如果我們得到大量的紅外線，你就會有一些很好的隔熱效果。然而，這不是一切 - 各種因素都會影響IR，包括溫度和濕度。我們將不得不進行一些測試，以確保IR值保持大致相同。絕緣電阻值通常以千兆歐[GΩ]表示。
良好的絕緣是當兆歐表讀數(shù)首先增加然后保持不變。絕緣不良是指兆歐表讀數(shù)首先增加然后減少。
預期的IR值達到20至30攝氏度。如果此溫度降低10攝氏度，則IR值將增加兩倍。如果上述溫度升高70攝氏度，則IR值降低700倍。
絕緣電阻測試的類型
短時或現(xiàn)場閱讀測試
在這種方法中，我們只需將兆歐表連接到待測試的絕緣體上并在短時間內(nèi)操作它，我們將簡單地在電阻值增加的曲線上選取一個點; 通常情況下，30秒內(nèi)的值會減少，60秒內(nèi)的值會更多。
如果我們測試的設備具有非常小的電容，例如短時間的房屋布線，那么現(xiàn)場讀數(shù)測試就是必要的。規(guī)則可以說明：對于每1000伏的工作電壓，絕緣電阻應約為1兆歐，小值為1兆歐。
時間阻力法
這種方法與溫度相當獨立，通?？梢栽跊]有過去測試記錄的情況下為我們提供結(jié)論性信息。它基于良好絕緣的吸收效果，與潮濕或受污染的絕緣相比。通過該方法的測試有時被稱為吸收測試。
該測試也很有價值，因為它與設備尺寸無關。無論電動機是大還是小，清潔和干燥絕緣電阻的增加都以相同的方式發(fā)生。因此，我們可以比較幾種設備并為新設備制定標準，無論其評級如何。
影響絕緣電阻值的因素
•電容充電電流：在絕緣充電到滿電壓后開始高電流和電流下降的電流（就像次打開插頭時花園軟管中的水流一樣）。
•吸收電流：也是初始高電流然后下降（由于時間阻力法部分討論的原因）。
•傳導或泄漏電流：絕緣體上和絕緣體上的電流基本上是穩(wěn)定的。
絕緣應當采取措施防止工業(yè)設備，建筑物和其他設施中使用的電氣設備，部件和設備的絕緣在長時間使用中降低時引起的電擊和短路等危險。
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