【儀表網 中標公示】X-射線光電子能譜儀，是一種表面分析技術，主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線，如Al Ka =1486.6eV，與樣品表面相互作用，利用光電效應，激發樣品表面發射光電子，利用能量分析器，測量光電子動能(K.E)，根據B.E=hv-K.E-W.F，進而得到激發電子的結合能(B.E)。
主要用途：
XPS：固體樣品的表面組成分析，化學狀態分析，取樣訊息深度為～10nm以內. 功能包括:
1. 表面定性與定量分析. 可得到小於10um 空間分辨率的X射線光電子能譜的全譜資訊。
2. 維持10um以下的空間分辨率元素成分包括化學態的深度分析(角分辨方式,,氬離子或團簇離子刻蝕方式)
3. 線掃描或面掃描以得到線或面上的元素或化學態分布。
4. 成像功能。
5. 可進行樣品的原位處理 AES：1.可進行樣品表面的微區選點分析(包括點分析，線分析和面分析) 2.可進行深度分析適合： 納米薄膜材料，微電子材料，催化劑，摩擦化學，高分子材料的表面和界面研究
一、項目編號：21CNIC026473-036(招標文件編號：21CNIC026473-036)
二、項目名稱：中國地質科學院水文地質環境地質研究所X射線光電子能譜儀采購項目
三、中標(成交)信息
供應商名稱：高德英特(北京)科技有限公司
供應商地址：北京市海淀區中關村大街45號興發大廈408室
中標(成交)金額：509.0000000(萬元)
四、主要標的信息
中國地質科學院水文地質環境地質研究所始建于1956年，是全國專門從事水文地質、工程地質、環境地質研究的國家公益性科研機構，是全國水文地質調查和地下水資源評價的科技支撐單位和技術發展核心，是全國水文地質環境地質專業編圖中心。
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