【儀表網(wǎng) 儀表會(huì)議】近日，2019屆平面計(jì)量研討會(huì)在上海舉行。會(huì)議由上海理工大學(xué)主辦，中國(guó)工程院信息與電子工程學(xué)部、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院、中國(guó)航空工業(yè)集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所、中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院、蘇州慧利儀器有限責(zé)任公司聯(lián)合主辦。會(huì)議由中國(guó)工程院李同保院士主持，江蘇計(jì)量院長(zhǎng)度所平面度項(xiàng)目負(fù)責(zé)人楊慧敏參加了此次會(huì)議。
 

　　中國(guó)工程院院士莊松林、李同保，中國(guó)工程院外籍院士顧敏等5位院士，共同擔(dān)任本次研討會(huì)的會(huì)議主席。莊松林致開幕辭，來自國(guó)內(nèi)平面度測(cè)量領(lǐng)域的專家長(zhǎng)春光機(jī)所副所長(zhǎng)張學(xué)軍、中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院副所長(zhǎng)冉慶，上海理工大學(xué)的王浩宇博士、萬新軍博士，德國(guó)的聯(lián)邦物理技術(shù)研究所主任Gerd Ehret、英國(guó)南安普頓大學(xué)教授John Mcbride、德國(guó)斯圖加特大學(xué)主任Pedrini Giancarlo等平面度專家分別在研討會(huì)上發(fā)表了專題報(bào)告。
 

　　報(bào)告內(nèi)容涉及超高精度平面和平板面形波前干涉檢測(cè)技術(shù)研究、大口徑平面平晶的檢測(cè)方法比對(duì)、干涉儀在半導(dǎo)體單晶硅片檢測(cè)上的應(yīng)用，光學(xué)和光波面平面度的溯源計(jì)量，移相平面等厚干涉儀測(cè)量不確定度分析，在會(huì)議上，德國(guó)PTB平面度實(shí)驗(yàn)室還公布了2018年平面度參數(shù)比對(duì)數(shù)據(jù)和結(jié)果。
 

　　本次研討會(huì)起點(diǎn)高，專業(yè)性強(qiáng)，聚焦平面度專業(yè)計(jì)量技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展、熱點(diǎn)話題、關(guān)鍵挑戰(zhàn)等問題，深入研討了平面度測(cè)量和高精度平面制造加工的難點(diǎn)和發(fā)展方向，有效推動(dòng)計(jì)量測(cè)試技術(shù)發(fā)展，促進(jìn)了行業(yè)技術(shù)交流與合作，對(duì)江蘇計(jì)量院平面度項(xiàng)目建設(shè)具有指向性和針對(duì)性的指導(dǎo)意義。