【儀表儀表網 儀表新品】電子顯微鏡，簡稱電鏡，由鏡筒、真空裝置和電源柜三部分組成。作為實驗研究的基本工具，其在各大領域的研究過程中發揮著必不可少的作用，廣泛應用于材料、生物、醫學、冶金、化學和半導體等研究領域。隨著科學技術的不斷發展，電鏡的性能得到了快速提升，分辨率越來越高。近期，電鏡市場涌現出了幾款性能、品質上乘的電鏡產品，助推電鏡市場持續繁榮。
技術創新 電鏡新品不斷涌現
在2018年8月5日-9日召開的美國電鏡年會上，的光學系統、工業測量儀器和醫療設備制造商卡爾蔡司發布了基于云技術的新數字顯微鏡平臺APEER。據悉，APEER平臺可以幫助顯微鏡用戶，通過利用應用程序工作流進行3D重建，并通過染色或分割等方式，實現在云端自動處理圖像。除了可以在平臺上交換科學應用程序，APEER平臺還能促進科學家之間的協作，并提供社區建設功能，比如討論論壇及交換數據集或在現有工作流基礎上進行構建。
據顯微鏡業務組負責人Markus Weber博士介紹， APEER平臺突破了以往對圖像處理的強調，對研究人員的工作本身給予了更多關注，APEER為研究人員提供了協作和構建所需的相關工具以及滿足其特定研究需求的解決方案。未來，APEER平臺的應用范圍將不斷擴大，為從事學術研究的工作人員和工業用戶提供先進的技術和解決方案。
TESCAN發布氙等離子源雙束電鏡S9000X
的電子顯微儀器制造商TESCAN，擁有超過60年的電子顯微鏡研發制造歷史，其產品憑借優異性能獲得了廣泛認可。近日，TESCAN發布了其新一代氙等離子源雙束電鏡S9000X。
隨著新納米技術和集成電路的發展，高密度、高功能器件的處理工作變得越發困難，需要更加可靠的分析平臺來支撐。TESCAN的雙束電鏡分析應用平臺S9000X配備了超快速的氙等離子源，具有極高的精度和效率。其新一代Triglav鏡筒的探測器系統具有非常優異的表面靈敏度和出色的對比度，新的iFIB +離子鏡筒進一步擴大了Xe等離子FIB應用領域，提升了大體積樣本微加工和3D微量分析能力，并且大大縮短了加工時間。這一平臺將有助于大體積3D樣品特性分析，為大尺寸試樣進行率制備和高分辨表征提供了的解決方案。
日本理學發布X射線顯微鏡新品nano3DX
日本理學(Rigaku)是世界X射線分析儀器制造商，近日，其發布了X射線顯微鏡新品nano3DX。 X射線顯微鏡nano3DX，通過使用高功率旋轉陽極X射線源和高分辨率CCD探測器，可以用高分辨率提供相對較大樣品的3D計算機斷層掃描圖像。旋轉陽極可以提供快速數據采集和輕松切換陽極材料的能力，以優化特定樣品類型的對比度。
nano3DX可以觀測到許多類型的樣品，包括那些具有低吸收對比度的樣品比如CFRP，或者更密集的材料比如陶瓷復合材料。nano3DX可以通過改變X射線波長來增強對比度或穿透力，從而實現觀測多類樣品的目標。
卡爾蔡司的數字顯微鏡平臺APEER、TESCAN的氙等離子源雙束電鏡S9000X以及日本理學的X射線顯微鏡新品nano3DX都是電鏡市場里的代表。作為科研工作的基礎工具，它們的出現將有力推動科技進步和市場發展，為各大基礎研究領域提供動力支持。
(原文標題：技術創新 電鏡新品不斷涌現)
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