國產復合型X射線熒光光譜儀亮相會展引關注

儀表新品 2017年03月29日 08:27:07來源：地調局實驗測試中心 14247

摘要該儀器集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領域，搭建了從厘米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。

　　【儀表網儀表新品】2017年3月5~9日，第68屆匹茲堡實驗室儀器展覽會在美國芝加哥展覽中心舉行。地調局實驗測試中心、北京鋼研納克檢測技術有限公司、地調局南京地調中心等共同自主研發的 CNX-808WE 波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀驚艷亮相，受到眾多專家學者的關注。

(圖片來源網絡)

　　該儀器集波譜、能譜、微X射線分析于一身，集成了波譜和能譜的優點，擴展了X射線熒光光譜儀的分析領域，搭建了從厘米級總體分析到毫米級分布分析的橋梁。

　　許多參加展會的客商，對CNX-808WE 波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀表示了極大的興趣，并現場進行了詳細咨詢。通過這次參展，不僅了解到了儀器行業的新行情，開拓了視野，為今后的儀器研發工作帶來了新的理念，更有助于該項成果的市場化。

　　(原文標題：自主研發波譜-能譜復合型X射線熒光光譜儀亮相展覽)

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