【儀表網 儀表新品】據美國芝加哥時間2017年3月6日，賽默飛在Pittcon現場展出拉曼光譜儀新品iXR，這是一款設計緊湊的多模式的拉曼光譜儀，可以使用多種技術對單一的測量點進行同時分析。
據悉，該產品使用光學接口同時提供化學指紋和材料結構數據，同時利用補充儀器收集元素或物理信息，并立即進行數據關聯。這些信息的目的在于提高對材料整體性能的理解,提升研究成果的質量。
此外，采用賽默飛的OMNIC系列軟件，iXR拉曼光譜儀可以捕獲隨著時間推移而產生的光譜變化，可以實現變化環境中的動態進程測量，比如聚合物的流變結晶。
“從事材料研究和表征的科研工作者需要深入、快速了解新材料的性能。” 賽默飛分子光譜副總裁和總經理Phillip van de Werken說。“iXR拉曼光譜儀以及我們在連用技術方面的實力，可以加深客戶對材料物理化學性質的了解。”
現在科學家可以結合緊湊型拉曼和實驗室的X射線電子能譜(XPS)、x射線衍射和流變儀等其他分析技術來進行材料研究和分析。結合化學和形態信息，以及元素和物理性質，可以更深入洞察化學和性能之間的關系。
(原文標題：賽默飛緊湊型拉曼光譜儀新品iXR亮相Pittcon)
