【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】近日，由武漢中科創(chuàng)新技術(shù)股份有限公司 、上海材料研究所等單位起草的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)計(jì)劃《無(wú)損檢測(cè) 超聲相控陣柱面成像導(dǎo)波檢測(cè)》征求意見(jiàn)稿發(fā)布，現(xiàn)公開(kāi)征求意見(jiàn)。截止時(shí)間2023年4月23日。
 

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。參考GB/T 9445 無(wú)損檢測(cè) 人員資格鑒定與認(rèn)證；GB/T 12604.1 無(wú)損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 超聲檢測(cè)；GB/T 29302 無(wú)損檢測(cè)儀器 相控陣超聲檢測(cè)系統(tǒng)的性能與檢驗(yàn)；JB/T 11731 無(wú)損檢測(cè) 超聲檢測(cè) 相控陣超聲波探頭通用技術(shù)條件等文件內(nèi)容編制。
 

　　本文件規(guī)定了相控陣柱面超聲成像的檢測(cè)原理、檢測(cè)設(shè)備、對(duì)比試塊、校準(zhǔn)與復(fù)核、檢測(cè)步驟、結(jié)果評(píng)定和檢測(cè)報(bào)告。本文件適用于長(zhǎng)度不大于1500mm，外徑不小于10mm且不大于100mm，長(zhǎng)度與外徑的比值不小于10的圓柱結(jié)構(gòu)件。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)主要章節(jié)包括：范圍，規(guī)范性引用文件，術(shù)語(yǔ)和定義，檢測(cè)原理，一般規(guī)定，檢測(cè)準(zhǔn)備，校準(zhǔn)與復(fù)核，試塊，靈敏度的設(shè)定，掃查方式，檢測(cè)及評(píng)定，檢測(cè)記錄及報(bào)告。
 

　　檢測(cè)原理：
 

　　柱面相控陣超聲波掃描是對(duì)一維環(huán)形線陣超聲探頭的相位控制技術(shù)。將多個(gè)小尺寸的條形壓電晶片按圓環(huán)排列，形成周向線陣探頭。由于各個(gè)晶片的超聲波信號(hào)頻率相同，當(dāng)各個(gè)晶片的發(fā)射和接收進(jìn)行相位延時(shí)，以一定的相位差相干疊加，就可形成各種指向和聚焦特性的聲束波。超聲波在圓柱件中受圓柱面約束，沿圓柱件長(zhǎng)度方向傳導(dǎo)，即超聲柱面導(dǎo)波。超聲柱面導(dǎo)波信號(hào)包含傳播過(guò)程中的全部信息，可用于細(xì)小缺陷的檢測(cè)。通過(guò)建立橫坐標(biāo)為工件外徑展開(kāi)長(zhǎng)度，縱坐標(biāo)為超聲傳播距離即工件長(zhǎng)度方向的距離，形成柱面B掃圖像顯示缺陷相關(guān)信息；通過(guò)周向線陣探頭建立柱面C掃平面圖，顯示信號(hào)接收的圓周方位。
 

　　檢測(cè)設(shè)備：
 

　　檢測(cè)儀應(yīng)滿足 GB/T 29302 的要求，具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證或質(zhì)量合格的證明文件。
 

　　儀器性能應(yīng)至少滿足以下要求：a) 工作頻率為 0.5 MHz～15 MHz(按-3 dB 測(cè)量)；b) 全程動(dòng)態(tài)聚焦；c) 掃查圖像：A 掃/B 掃/C 掃；d) 不小于 16/64 接收激發(fā)通道相控陣；e) 發(fā)射電壓：不小于 50 V；f) 增益范圍：0 dB～80 dB，調(diào)節(jié)精度最小 0.1 dB。
 

　　相控陣超聲柱面成像檢測(cè)儀和探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)滿足如下要求：a) 在達(dá)到所檢測(cè)工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其靈敏度余量不應(yīng)小于 10 dB；b) 儀器和探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不應(yīng)大于 10 %；c) 在基準(zhǔn)靈敏度下，儀器和探頭組合的始脈沖寬度，對(duì)于頻率為 5 MHz 的探頭，寬度不大于 2.5 mm；d) 儀器和探頭信噪比應(yīng)大于 35 dB。
 

　　檢測(cè)面要求：
 

　　新制造的工件外觀質(zhì)量應(yīng)經(jīng)檢測(cè)合格后進(jìn)行超聲檢測(cè)。
 

　　影響超聲波探頭與檢測(cè)面耦合的銹蝕、鍍鋅層凸起和污物等都應(yīng)予以清除。其檢測(cè)面粗糙度應(yīng)不低于 Ra6.3。
 

　　檢測(cè)時(shí)環(huán)境溫度應(yīng)在-10 ℃～+50 ℃之間。
 

　　檢測(cè)記錄：
 

　　應(yīng)按照現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)實(shí)際情況詳細(xì)、客觀記錄檢測(cè)過(guò)程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。檢測(cè)記錄至少應(yīng)包括以下內(nèi)容：a) 記錄編號(hào)；b) 檢測(cè)工藝卡名稱及編號(hào)；c) 檢測(cè)對(duì)象：項(xiàng)目名稱、工件名稱、編號(hào)、規(guī)格尺寸、材質(zhì)、檢測(cè)部位、檢測(cè)時(shí)的表面狀態(tài)、檢測(cè)時(shí)機(jī)；d) 檢測(cè)設(shè)備和器材：儀器名稱、規(guī)格型號(hào)和編號(hào)；探頭情況(類型、標(biāo)稱頻率、晶片尺寸、角度、編號(hào)等)；試塊型號(hào)；耦合劑；e) 檢測(cè)工藝參數(shù)：檢測(cè)范圍、掃查位置(面、側(cè))、掃查方式、基準(zhǔn)靈敏度、耦合補(bǔ)償?shù)龋籪) 檢測(cè)結(jié)果：檢測(cè)部位示意圖；缺陷位置、尺寸、回波幅度等；缺陷的評(píng)定級(jí)別和檢測(cè)結(jié)果評(píng)定；g) 檢測(cè)人員、記錄人員簽字；h) 檢測(cè)日期和地點(diǎn)。
 

　　檢測(cè)原始記錄應(yīng)及時(shí)、真實(shí)、準(zhǔn)確、完整，并經(jīng)記錄人員和檢測(cè)人員簽字認(rèn)可。
 

　　檢測(cè)報(bào)告：
 

　　檢測(cè)報(bào)告參見(jiàn)附錄A，應(yīng)至少包括以下內(nèi)容：a) 報(bào)告編號(hào)；b) 工件名稱、工件編號(hào)、材料種類、規(guī)格；c) 探傷儀型號(hào)、探頭、試塊和檢測(cè)靈敏度；d) 超聲檢測(cè)區(qū)域應(yīng)在記錄上予以表明，如有因幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位，也應(yīng)加以說(shuō)明；e) 缺陷的類型、尺寸、位置和分布；f) 檢驗(yàn)結(jié)果、缺陷等級(jí)評(píng)定及檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)名稱；g) 檢驗(yàn)人員和責(zé)任人員簽字及其技術(shù)資格；h) 檢驗(yàn)日期。
 

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