IKEIDARIKA池田理化電子顯微鏡JIB-4700F

IKEIDARIKA池田理化電子顯微鏡JIB-4700F

TM4000 Ⅱ,TM4000Plus Ⅱ,JSM-IT700HR,JSM-IT800,AZtecOne,Quantax75,

Quantax75-60,JIB-4700F,JSM-IT200 InTouchScope,JCM-7000 NeoScope

日立臺式顯微鏡 Miniscope特征:

直觀的操作支持目標(biāo)數(shù)據(jù)創(chuàng)建報告,自動獲取各種數(shù)據(jù)。

新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了更高的圖像質(zhì)量,電子束條件可以根據(jù)目的切換,即使在低真空下也可以對二次電子圖像進(jìn)行三維觀察(僅限TM4000Plus)。

由于無油排氣系統(tǒng),可以安裝在任何地方電源容量100V,5A,無油泵允許安裝在任何地方。

多種選件，可供選擇能量色散X射線光譜儀，可安裝三維構(gòu)建和測量軟件。

肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡JSM-IT700HR提供300nA(是傳統(tǒng)型號的15倍)電流的電子槍,讓您在觀察和分析時有余地感。此外,它還有一個側(cè)重于簡單操作的用戶界面、緊湊的設(shè)計和一個大的樣品室,以及一個重新設(shè)計的框架的抗震工廠,使它比實(shí)際看到的更容易。有具有低真空能力的LV型號和具有低真空能力和EDS元素分析儀的LA型號。

JSM-IT800配備了用于高分辨率觀察的"鏡頭內(nèi)肖特基Plus場發(fā)射電子槍"、下一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)"Neo Engine"以及易于使用的高分辨率系統(tǒng)。JSM-IT800具有混合鏡頭版本,即通用FE-SEM,以及超級混合鏡頭版本,可實(shí)現(xiàn)更高分辨率的觀察和分析。以及半入式-專門觀察半導(dǎo)體樣品的鏡頭版本。此外,JSM-IT800可配備新型背散射電子探測器、閃爍體背散射電子探測器和多用途背散射電子探測器。SBED可以獲取具有良好響應(yīng)性和低加速電壓的材料對比圖像。VBED可以獲取3D、不均勻度和材料對比度圖像,因此可以期待獲取到現(xiàn)在無法獲取的信息并改進(jìn)麻煩的測量。

能量色散 X 射線光譜儀元件特征:

用于固定式SEM的EDS的性能,現(xiàn)在可以安裝在TM4000II的臺式顯微鏡上,該顯微鏡已被采用。

Si3N4窗口用于高靈敏度Si3N4,窗口檢測器。優(yōu)化低能量X射線的傳輸?？梢詫μ貏e難以檢測的輕元素進(jìn)行高靈敏度分析。

高 X 射線計數(shù)率,與傳統(tǒng)的聚合物窗口探測器相比,Si3N4窗口探測器提高了X射線計數(shù)率。實(shí)現(xiàn)了快速映射和改進(jìn)的檢測限。

能量色散X射線光譜儀AZtecOne/AZtecLiveOne特征:

圖標(biāo)按操作流程順序排列,操作簡單。

通過一致的光譜顯示輕松確認(rèn)元素重疊。

使用TruMap功能分離并正確顯示具有重疊峰的元素。

能量色散X射線光譜儀Quantax75/Quantax75-60特征:

操作簡單快速的彩色X光圖。

Hypermap可在單次測量中獲得點(diǎn)分析、線分析和繪圖結(jié)果。

可以通過移動光點(diǎn)位置來確認(rèn)光譜。

組合光束加工觀察裝置JIB-4700F特征:快速分析；高速加工；增強(qiáng)檢測系統(tǒng)；可擴(kuò)展性；3D觀察、3D分析；舞臺聯(lián)動功能；圖片疊加系統(tǒng)；

JSM-IT200是一款經(jīng)濟(jì)高效的掃描電子顯微鏡,其功能比型號JSM-IT500更簡單易用。初學(xué)者友好的樣品交換導(dǎo)航使設(shè)置樣品、搜索視野和開始觀察SEM圖像變得容易。Zeromag等分析作業(yè)用軟件,可以像使用光學(xué)顯微鏡一樣搜索視野,Live Analysis可以在不注意分析的情況下看到元素分析的結(jié)果。

臺式掃描電子顯微鏡 Neoscope JCM-7000 NeoScope特征:

3種觀察模式(高真空、低真空、電荷減少模式)。

觀察區(qū)域廣(視場40×40mm)。

可以使用內(nèi)置的CCD相機(jī)獲取支架上樣品的彩色圖像。容易找到視野。

自動對齊會自動調(diào)整燈絲軸。

Wehnelt 集成燈絲,任何人都可以更換,并且自動對軸。