超聲衍射時差法研發的TOFD檢測儀器HS810，是目前資格取證的主用儀器（特種行業TOFDⅡ級人員資質培訓考核樣板機），可支持3對TOFD探傷通道，可配置3對TOFD探頭（可擴展），支持對厚度為12mm-200mm工件的進行一次性全覆蓋掃查。對于平板或對接焊縫中部缺陷檢出率很高，容易檢出方向性不好的缺陷，可以識別向表面延伸的缺陷。
功能特點
1、集A掃、B掃成像、TOFD成像、導波成像等多能一體。
2、合成孔徑聚焦(SAFT)技術。
3、內置現場檢測工藝模型，自動生成檢測工藝。
4、便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各種工件檢測要求。
5、A型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力。
6、B掃成像：實時顯示缺陷截面形狀。
7、TOFD掃成像：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對缺陷質量進行評價。
8、多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內的分區掃查,可擴展至400mm厚度。
9、直通波去除：近表面缺陷專用處理工具，提高近表缺陷分析精度。
10、橫豎調整：滿足不同現場操作習慣。
11、SAFT：有效提高缺陷測量精度的功能。
12、儀器軟件：同時具備SAFT（合成孔徑聚焦）功能，差分直通波拉直功能。
13、離線分析軟件：具備SAFT（合成孔徑聚焦）處理功能，具備圖像處理前和處理后的同屏對比顯示功能，具備能直接將TOFD圖像轉換成BMP位圖的功能。
14、離線圖象分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形；缺陷尺寸和輪廓厚度/幅度數據統計分析；記錄轉換到ASCII/。MSWord/MSExcel格式報告
超聲衍射時差法研發的TOFD檢測儀器HS810應用
板材焊縫檢測、管道焊縫檢測、壓力容器等特種設備檢測
技術參數
發射參數
接收參數
綜合性能
儀器參數
功能特點
1、集A掃、B掃成像、TOFD成像、導波成像等多能一體。
2、合成孔徑聚焦(SAFT)技術。
3、內置現場檢測工藝模型，自動生成檢測工藝。
4、便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查,滿足各種工件檢測要求。
5、A型掃描：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價能力。
6、B掃成像：實時顯示缺陷截面形狀。
7、TOFD掃成像：實時顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對缺陷質量進行評價。
8、多路TOFD檢測和PE檢測全面覆蓋200mm厚度以內的分區掃查,可擴展至400mm厚度。
9、直通波去除：近表面缺陷專用處理工具，提高近表缺陷分析精度。
10、橫豎調整：滿足不同現場操作習慣。
11、SAFT：有效提高缺陷測量精度的功能。
12、儀器軟件：同時具備SAFT（合成孔徑聚焦）功能，差分直通波拉直功能。
13、離線分析軟件：具備SAFT（合成孔徑聚焦）處理功能，具備圖像處理前和處理后的同屏對比顯示功能，具備能直接將TOFD圖像轉換成BMP位圖的功能。
14、離線圖象分析：恢復和回放掃查時記錄的A掃波形；缺陷尺寸和輪廓厚度/幅度數據統計分析；記錄轉換到ASCII/。MSWord/MSExcel格式報告
超聲衍射時差法研發的TOFD檢測儀器HS810應用
板材焊縫檢測、管道焊縫檢測、壓力容器等特種設備檢測
技術參數
發射參數
| 脈沖類型 | 負方波脈沖 | 脈沖寬度 | 40ns-1000ns連續可調(8ns步進) | 可同時連接探頭 | 10 個 |
| 脈沖前沿 | <10 ns | 阻抗匹配 | 25Ω、500Ω |
接收參數
| 采樣頻率/位數 | 125MHZ/12bits | 等效輸入噪聲 | <60nV/√Hz | 垂直線性誤差 | ≤3% |
| 采樣深度 | 512/1024可調 | 掃描范圍 | 零界面入射-14000mm鋼縱波 | 水平線性誤差 | 小于等于 |
| 0.30% | |||||
| 重復頻率 | 100Hz-800Hz可調 | 聲速范圍 | （300-20000）m/s | ||
| 衰減器精度 | <1dB/12dB | 動態范圍 | ≥30dB |
綜合性能
| 分辨力 | >30dB | 檢波方式 | 全檢波、正檢波、負檢波、射頻 | 成像模式 | A掃、 B掃、C掃 |
| 靈敏度余量 | >52dB(Φ2×200mm） | 波形平均 | 1-8可調 | 直線掃查長度 | （0-40000）mm自動滾屏 |
儀器參數
| 整機尺寸 | 248×180×80(mm) | 人機交互 | 鍵盤，飛梭 | 工作溫度 | (-10-40)°C（參考值） |
| 整機重量 | 2.4kg（含電池） | 電源、電池 | 直流（DC12V/2A） | 相對濕度 | （20-95）%RH |
| 電池11.1V/6600mAH | |||||
| 顯示屏尺寸 | 6.5" | 固態硬盤 | 8 GB | 出廠檢驗 | 提供歐標檢驗報告 |
| 顯示屏分辨率 | 640×480 | 接口 | LAN,USB2.0,VGA |
