集成電路測試儀大部分數據手冊沒有討論比較器的噪聲（除了新的NSC LM612和LM615數據手冊之外），但是比較器確實具有噪聲.依賴于使用的每個單元,你可能發現每個比較器都有單獨的”噪聲頻帶”.當差分輸入信號緩慢地從一側進入該頻帶時,由于經過放大的噪聲或振蕩,輸出可能獲得很大的噪聲,有時候是軌到軌的.即使輸入電壓返回到電壓開始振蕩可能繼續.所以，你可以很容易地對失調電壓V建立自己的測試,而這與生產商測量或保證的值不一致.的確,其可能對設計測試的一致性敏感.

對比較器V的測試,我通常構構建軍一個典型的運算放大器振蕩器,在其中建立特定量的遲滯和一定量的電容,所以器件將振蕩在適中受控的頻率.

電路板故障檢測儀另一個避免比較器V故障的方法是在比較器之前使用單片雙晶體管作為差分放大器的前置放大級.在減小輸出到輸入信號雜散反饋的同時,該前置放大器可以增加增益和精度.

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