隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,顆粒測(cè)量方法也不斷變換、更新和完善。根據(jù)其基本工作原理,可分為幾大類:沉降法、篩分法、顯微鏡法、電感應(yīng)法和光散射法等。這些方法各有自己的特點(diǎn)和應(yīng)用范圍,但光學(xué)法以其測(cè)試速度快、操作簡(jiǎn)便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn),在顆粒測(cè)量領(lǐng)域已被廣泛采用。
粒度測(cè)量?jī)x是目前測(cè)量顆粒粒度的主要手段之一,已廣泛應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、醫(yī)藥等領(lǐng)域。激光粒度儀一般采用小角前向散射原理,它的光電探測(cè)器通常為同心環(huán)狀結(jié)構(gòu),測(cè)量時(shí)要求其圓心應(yīng)與入射光軸重合,此調(diào)整過程稱為對(duì)中。當(dāng)采用手動(dòng)對(duì)中方式時(shí),會(huì)增大人為因素的干擾,并提高了對(duì)操作人員技能的要求。簡(jiǎn)化激光粒度儀在測(cè)量前需要進(jìn)行的光路對(duì)中操作,提高儀器的自動(dòng)化程度,減小人為因素及機(jī)器對(duì)中速度造成的影響。
粒度測(cè)量?jī)x根據(jù)光電探測(cè)器的特性將對(duì)中有小區(qū)分為3個(gè)部分并對(duì)影響對(duì)中精度的因素進(jìn)行了理論分析和模擬計(jì)算。熟悉硬件電路的基本結(jié)構(gòu)和功能熟悉使用采用VC++編寫的上位機(jī)軟件進(jìn)行控制現(xiàn)有的自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng),并能根據(jù)數(shù)據(jù)分析出問題所在進(jìn)行進(jìn)一步進(jìn)行調(diào)整。以自動(dòng)對(duì)中原理為依據(jù),采取變步長(zhǎng)的方式進(jìn)行自動(dòng)對(duì)中,并針對(duì)算法中截止條件的選取問題進(jìn)行了多次測(cè)量實(shí)驗(yàn),通過綜合比價(jià)對(duì)中精度和對(duì)中所需時(shí)間確定了系統(tǒng)所需的截止條件。
粒度測(cè)量?jī)x是一種利用激光散射原理對(duì)顆粒大小進(jìn)行檢測(cè)的裝置,激光經(jīng)擴(kuò)束透鏡后照射到位于透明樣品池中的顆粒,經(jīng)傅立葉透鏡后在透鏡后焦面上由光電探測(cè)器接收粒子散射光。光電探測(cè)器的中心為一直徑很小的通孔,外面是多元光電探測(cè)環(huán)。由于直徑不同粒子對(duì)光散射的角分布不同,因此,根據(jù)探測(cè)器上各環(huán)接收到的光強(qiáng)大小可統(tǒng)計(jì)出各部分粒子的尺寸大小。當(dāng)沒有通過粒子場(chǎng)時(shí),激光光束應(yīng)準(zhǔn)確地匯聚到探測(cè)器的中心孔上,即探測(cè)器的中心孔應(yīng)位于透鏡的焦點(diǎn)上。
版權(quán)與免責(zé)聲明:
凡本網(wǎng)注明"來源:儀表網(wǎng)"的所有作品,版權(quán)均屬于儀表網(wǎng),未經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)不得轉(zhuǎn)載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經(jīng)本網(wǎng)授權(quán)使用作品的,應(yīng)在授權(quán)范圍內(nèi)使用,并注明"來源:儀表網(wǎng)"。違反上述聲明者,本網(wǎng)將追究其相關(guān)法律責(zé)任。
本網(wǎng)轉(zhuǎn)載并注明自其它來源的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網(wǎng)贊同其觀點(diǎn)或證實(shí)其內(nèi)容的真實(shí)性,不承擔(dān)此類作品侵權(quán)行為的直接責(zé)任及連帶責(zé)任。其他媒體、網(wǎng)站或個(gè)人從本網(wǎng)轉(zhuǎn)載時(shí),必須保留本網(wǎng)注明的作品來源,并自負(fù)版權(quán)等法律責(zé)任。
如涉及作品內(nèi)容、版權(quán)等問題,請(qǐng)?jiān)谧髌钒l(fā)表之日起一周內(nèi)與本網(wǎng)聯(lián)系,否則視為放棄相關(guān)權(quán)利。
合作、投稿、轉(zhuǎn)載授權(quán)等相關(guān)事宜,請(qǐng)聯(lián)系本網(wǎng)。聯(lián)系電話:0571-87759945,QQ:1103027433。