雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀 器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
型號：BXA55
BXA55雙電四探針方阻電阻率測試儀：
本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
BXA55雙電四探針方阻電阻率測試儀：
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀
器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
雙電四探針方阻電阻率測試儀 粉末電導率測試儀 四探針方阻電阻率測試儀
規格型號 | BXA55 |
1.方塊電阻范圍 | 10-2～2×105Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10-3～2×106-cm |
3.測試電流范圍 | 0.1μA,1μA,10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
4.電流精度 | ±0.3%讀數 |
5.電阻精度 | ≤0.5% |
6.顯示讀數 | 大屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率 |
7.測試方式 | 雙電測量 |
8.工作電源 | 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<30W |
9.整機不確定性誤差 | ≤3%（標準樣片結果） |
10.選購功能 | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 |
