SK2008金相顯微測量分析系統(tǒng)
2008金相顯微測量分析系統(tǒng)包括數(shù)碼金相顯微鏡及高級圖像測量分析軟件.系統(tǒng)集成了傳統(tǒng)目視與現(xiàn)代影像功能,內(nèi)置高亮度可持續(xù)調(diào)節(jié)的同軸光.高達(dá)400X-4000X的電子放大倍率和40 X-400 X的光學(xué)放大倍率, ±300納米測量精度,使成像更加清晰可見.由賽克專業(yè)開發(fā)高級圖像測量分析軟件,能夠快速精確的捕捉各種圖像,具有圖像測量、管理及處理等功能.產(chǎn)品適用于IC芯片、PCB覆銅板、液晶屏導(dǎo)電離子的檢測和工礦、科研,教學(xué)等單位研究和觀察等.尤其對于細(xì)小顆粒、粉末試樣、大批金相和大面積硅片的檢測,可得到*的圖像效果. 本產(chǎn)品是經(jīng)濟(jì)普及型亞納米級測量產(chǎn)品,比同類產(chǎn)品具有*的性價比.
性能
◆ 內(nèi)置連續(xù)可調(diào)光源
◆ 4000X電子放大率,高質(zhì)素成像
◆ 配合機(jī)臺使用鹵素?zé)簦ㄒ暪鈾诤涂讖焦鈾诖笮】烧{(diào))
◆ 內(nèi)置式高清晰saike image card
◆ 縱、橫可移動平臺
◆ 采用松下原廠CCD攝像頭
◆ 外設(shè)*的目鏡
◆ 適應(yīng)明視場、暗視場
◆ SKD-CL2軟件系統(tǒng)可進(jìn)行各種圖像測量和處理
◆ 支持多種格式,可進(jìn)行圖像存儲、編輯、打印、發(fā)送、格式化等