探針測(cè)試臺(tái)
（英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。）、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
產(chǎn)品介紹:
ST-102A型探針測(cè)試臺(tái)
ST-102A型探針測(cè)試臺(tái)（英文叫Prober station,中文又稱中測(cè)臺(tái),點(diǎn)測(cè)機(jī)。)、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
技 術(shù) 指 標(biāo) ：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái)、顯微鏡、承片臺(tái)、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。
工作臺(tái)面 | 370mm*245mm |
載物臺(tái)直徑 | 4" |
放大倍數(shù) | 50倍、100倍，固定倍數(shù)； |
監(jiān)視方式 | 顯微鏡 |
光學(xué)參數(shù) | 手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm； |
精密旋轉(zhuǎn)臺(tái) | 粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°； |
三維探針座 | 探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ； |
探針 | 探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm； |
標(biāo)準(zhǔn)配置：主工作臺(tái)、顯微鏡、承片臺(tái)、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實(shí)際需求進(jìn)行訂做。
ST-102A型
ST-102A型
ST-102A型
