x射線熒光光譜分析儀供應技術參數：

激發源                  高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗                                        

電壓及功率         40 kV, 40 W                                                                                

探測器                 大面積正比計數器，1100 mm²感應面積                             

光斑尺寸             準直器交換器，0.3 mm或以上                                              

樣品觀察            高分辨彩色攝像系統，放大倍數20-40倍                               

樣品臺                馬達驅動Z方向樣品臺，自動對焦。                                      

                           選項：馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能 

定量分析             塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型      

                             鍍層分析：基本參數法模型                                                   

電源：               110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率100 W                        

尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm                                                          

重量                  46 kg   

                         M1 MISTRAL（SDD）

激發源             高性能微焦斑光管，W靶，玻璃窗

電壓及功率     50 kV, 50 W

探測器             電制冷高性能XFlash® 硅漂移探測器，30 mm²感應面積，對Mn-Ka能量分辨率小于150 eV

光斑尺寸         準直器交換器，0.5 mm或以上

樣品觀察         高分辨彩色攝像系統，放大倍數20-40倍

樣品臺             馬達驅動X-Y-Z樣品臺，自動對焦，便捷進樣功能。

定量分析         塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模型和無標樣模型

                         鍍層分析：基本參數法模型

電源：             110 to 230 V AC; 50/60 Hz, zui大功率120 W

尺寸（寬x深x高）550 x 700 x 430 mm

重量                50 kg

x射線熒光光譜分析儀供應采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數22號（鈦）以上的所有元素。分析的樣品類型：各種不同的材料，如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品。樣品尺寸zui大可達100×100×100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。光管位于樣品上方，測量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復雜式樣的樣品，如精工細作的珠寶或不同厚度的樣品。