雙光束紫外可見分光光度計 紫外可見分光光度計 光度計 型號；DP-762
、 產品點
1、關鍵元件采用口元件，全新的光學系統，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光度和穩定可靠性。
2、真正的雙光束測光系統，配合的電路測控系統，使儀器具有較的可靠性和低的噪聲。
3、的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找Z佳位置的和
雙光束紫外可見分光光度計 紫外可見分光光度計 光度計 型號；DP-762
、 產品點
1、關鍵元件采用口元件，全新的光學系統，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光度和穩定可靠性。
2、真正的雙光束測光系統，配合的電路測控系統，使儀器具有較的可靠性和低的噪聲。
3、的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找Z佳位置的和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全．
4、采用大屏幕中文窗口（LED）液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．
5、優良的軟件和編制，使儀器有較強光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜, 多波長（ 1-3λ） 測定、動力學測定、１－３次曲線擬合、１－４階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
6、基于Windows 平臺開發的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用。
二、性能指標
1、波長范圍：200nm～1100nm 2、光譜帶寬：2nm
3、波長準確度：≤±0.3nm（開機自動校正） 4、波長重復性：≤0.2nm
5、透射比準確度：±0.5%（T） 6、透射比重復性：0.2%（T）
7、透射比測量范圍：0～200%T 8、吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
9、雜光：≤0.15%（在220nm處，以NAI測定） 10、漂移：≤0.004A/H （500nm處）
11、噪聲：線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
12、掃描速度：快 中 慢
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