電子產品高低溫沖擊試驗箱滿足標準：
GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法
GB-T10592-2008高低溫箱技術條件
GJB150.3-1986軍用設備環境試驗方法：高溫試驗
GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求
電子產品高低溫沖擊試驗箱型號及技術參數：（W×H×D） （mm）
KW-TS-50 內箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440
KW-TS-80 內箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440
KW-TS-100 內箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440
KW-TS-150 內箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540
KW-TS-250 內箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640
KW-TS-480 內箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150
溫度范圍：F:-40~+150 ℃ X:-55~+150℃ S:-60~+150℃
電 源：∮5W AC38O±10% 50/60HZ
高溫室：預熱溫度范圍，RT+20℃~200℃
升溫時間：+20℃~+200℃約30min
低溫室：預冷溫度范圍，RT~-80℃
降溫時間：+20℃~-80℃約80min
實驗室沖擊：溫度均勻度±2.0℃
產品用途：
電子產品高低溫沖擊試驗箱，電子高低溫沖擊試驗，電子元件高低溫沖擊測試箱適用于電子產品、電子元器件、電容、電阻、電源、電池、光電、電路板、線路板、光纖、光伏組件、塑膠制品、橡膠、金屬、塑膠原料、不干膠、印刷、建材、LED、LCD、PCB、電子等材料行業*的測試設備，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經*溫及極低溫的連續環境下忍受的程度，得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
電子產品高低溫沖擊試驗箱滿足標準：
GB/T2423.1-2008試驗A低溫試驗方法
GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法
GB-T10592-2008高低溫箱技術條件
GJB150.3-1986軍用設備環境試驗方法：高溫試驗
GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求
電子產品高低溫沖擊試驗箱特點：
1.采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面， 操作簡易。
2.設備區分為高溫區、低溫區、測試區三部分， 各區之箱體釆*之斷熱結構。
3.沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區， 做冷熱沖擊測試。
4.高溫沖擊或低溫沖擊時， 大時間可達9999分鐘， 大循環周期可達9999次。
5.系統可作自動循環沖擊或手動選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。
6.冷卻采二元冷凍系統， 降溫效果快速， 冷卻方式為風冷式或水冷式兩種。
7.可連接電腦， 記錄儀僅為選購件。
電子產品高低溫沖擊試驗箱箱體結構：
1、箱體外壁材料：外表面鋼板噴塑。
2、箱體內壁材料：SUS304不銹鋼板。
3、整個箱體分為上、中、下三個區分別為高溫區、測試區、低溫區 沖擊試驗時自動打開高溫區與低溫區的風閥從而達到高溫與低溫的沖擊試驗
4、保溫材料：保溫層采用耐高溫防火PU和隔熱高密度纖維棉。
電子產品高低溫沖擊試驗箱安全保護措施:
1、工作室超溫；
2、制冷機超壓；
3、制冷機過載；
4、制冷機油壓；
5、加熱器短路、過載；
6、鼓風電機過載；
7、系統漏電保護；
電子產品高低溫沖擊試驗箱設備使用條件
1、環境溫度：5～28℃
2、環境濕度：≤85%R?H
3、保證性能的條件：（在下達條件下，保證低可達-85℃）
4、需安裝冷卻量為 10噸的冷卻塔（制冷系統用）
