產地：美國
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Emai：wyljhx2012
儀器簡介：
RoHS指令限制在電子電氣設備中使用有毒物質。新一代的RoHS Vision運用高分辨率的探測器，軟件集成相機以及具有可變光點尺寸的強大的X射線管來調節大小不*的樣品以及測量極低能級的限制物質。快速定量分析有助于生產商嚴格遵守新的規則。對不同基質、不同厚度、不同大小的樣品自動識別基質成分并選擇*采集參數。
產品優勢：
1）簡單、快速進行 RoHS 標準中有害物質的認定；
2）瞬間得到元素的精確分析結果；
3）集成照相機和微 X 射線光點能充分識別目標區域；
4）擁有自動基質系統，即便不是專業的技術人員，也可以輕松操控這臺儀器；
5）直觀用戶友好的專有軟件；
6）堅穩緊湊的設計。
7）測量范圍從F（9）-Fm （100），元素含量分析范圍從sub ppm~；
8）可達到123eV的分辨率；
9）輕元素探測器可選；
10）高計數率結合高度創新的數字技術
主要應用：
RoHS/WEEE 指令檢測，篩查受管制元素（Pb,Hg,Cd,Cr,Br）。包括：石化、聚合物、冶金 環境、礦物質、取證以及自定義應用程序等。
技術參數：
| X-RoHS+SDD用于RoHS環境 | X-RoHS+SDD用于全部分析環境 | |
| 測量能力 | ||
| 測量范圍 | Pb, Hg, Cd, Cr, Br | F（9）-Fm （100） |
| 元素含量分析范圍 | Sub ppm - | |
| X光管 | ||
| X光源 | Mo–陽級標準 | |
| X-射線電壓 | 50kV, 50W | |
| 激發模式 | 直接使用過濾器 | |
| 光斑尺寸 | 微點—0.1mm，宏點0.8mm（根據樣品） | |
| 穩定性 | 室溫條件下精確到0.1% | |
| X光探測器 | ||
| 探測器 | 硅漂移探測器/超級SDD，熱電冷卻 | |
| 分辨率 | 129 eV ± 5eV （使用超級SDD，可達到123 eV ± 5eV） | |
| 特性 | ||
| 工作條件 | 空氣/氦氣 | |
| 濾光片 | 6款可選的軟件 | |
| 電源 | 115 Vac/60 Hz 或230 Vac/50 Hz | |
| 脈沖加工 | 多信道分析 | |
| 尺寸（L×W×H，cm） | 55×55×32（不含包裝），80×80×65（含包裝） | |
| 重量 | 50Kg（凈重），90Kg（總重） | |
| 樣品室尺寸 | 22 x 22cm, H=5cm | |
| 電腦 | 集成 pc | |
| 軟件 | ||
| 操作軟件 | nEXt，運行在Windows XP下的數據采集及分析軟件包外加初級基本參數算法 | |
| 控制 | 樣品激發，探測，樣品操控，數據采集及處理的自動控制 | |
| 光譜處理 | 逃逸峰及背底的自動去除，自動重疊峰解析，圖解式統計報告 | |
| 定量分析算法 | 考慮共存元素效應的多元素回歸法（六種模式）。總計數，凈計數擬合及數字濾波器法。 | |
| 報告 | 用戶可自定的數據報表及打印形式 | |
