變溫粘滯系數實驗儀  型號：DP-PH-II

微型速能粉碎機 能粉碎機 粉碎機 型號：DP-WWFS-Ⅱ

該機可用于破碎煤炭、焦炭、礦物質、土壤、砂、石和植物種子。適用于煤炭、焦化、地質、醫藥衛生、農業、工業的科研單位和化驗制樣室制取少量試樣用。

二、主要指標

轉子轉速：210000r/min

入料粒度：-6mm

出料粒度：≤60-120

每次入料量：≤50g

粉碎時間：3-5秒

電源：220V 50HZ

三、該產品點

1、轉速：≥10000轉/分

2、效率：50g物料僅需要3-5秒便可成粉碎，即簡便又快速。

3、密封性好；工作中沒有被粉碎的物料泄漏，使工作環境保持清潔。

4、性能穩定：可連續工作，使用壽命長。

半導體粉末電阻率測試儀/粉末電阻率測試儀 型號：DP-FZ-2006

本儀器是為了適應當前迅速發展中的分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關際標準的。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA ，電阻率測試范圍為 10 ^-2 - 10 ⁵ Ω cm ，直接采用數字顯示。儀器的可靠性和

穩定性大大增強，更方便于用戶， 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、分子納米粉末和固態金屬行電阻、電阻率多用途的測量。

適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，別適合于太陽能多晶硅、硅粉質量的測量、分選和質量控制. 電阻率值直接數字顯示由具有精度加壓系統, 度測量的測試臺和儀器組成.

儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由精度直流數字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器，加壓機構和粉末標準容器組成。壓力機構采用手動操作、壓力平穩。本儀器具有測量精度，穩定性好，重復性好，使用方便等點， 并有自校功能。

本儀器采用際通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電與粉末接觸產生的接觸電阻誤差，還可以消除聯接系統所帶來的誤差，克服了以往傳統的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。

本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、等院校、科研、是檢驗和分析固態、粉態和納米樣品質量的種重要工具。

參數；

1. 測量范圍：
   • 電阻 10^-4 - 10⁵ Ω, 分辨率 10^-4 Ω
   • 電阻率 10^-4 - 10⁵ Ω.cm，分辨率 10^-4 Ω.cm

測量誤差 ±（0.3% 讀數 + 2 字）

2. 測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
   測量精度: ±（0.3% 讀數 + 2 字）
3. 測量電流：0 - 100 mA 連續可調，
   電流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA
4. 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網）納米粉末
5. 試樣容器：內腔Φ16.30 ± 0.1mm
6. 試樣度：16mm ± 0.5mm 
   測量誤差：±0.1mm
7. 取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
   壓力量程：0 - 100 kg 可調
8. 顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數字顯示,并自動顯示單位和小數點
9. 電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
10. 外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
11. 備有粉末測試架和固態標準樣品測試臺供選用

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半導體電阻率測試儀/電阻率測試儀/半導體電阻率測定儀(含探頭和測試架）　型號：DP-BD-86A

DP-BD-86A型半導體電阻率測試儀是我廠推出的的普及型半導體電阻率測試儀器，本儀器是根據四探針原理，適合半導體器材廠，材料廠用于測量半導體材料（片狀、棒狀）的體電阻率，方塊電阻（簿層電阻），也可以用作測量金屬薄層電阻，經過對用戶、半導體廠測試的調查，根據美ASTM標準的規定，在電路和探頭方面作了重大的修改和上的許多突破，它更適合于半導體器材廠工藝檢測方面對中值、阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測量需要，成為普及型的電阻率測試儀，具有測量精度，穩定性好，輸入阻抗，使用方便、價格低廉等點。

   儀器主要指標：

1．  測量范圍：電阻率10^-3—10³Ω-cm，分辯率為 10^-4Ω-cm ，可擴展到10⁵Ω-cm

  方塊電阻10^-2—10⁴Ω/□，分辯率為10^-3Ω/□，可擴展到10⁶Ω/□

薄層金屬電阻10^-4—10⁵Ω，分辯率為10^-4Ω

2.可測半導體材料尺寸：直徑Φ15—Φ125mm；  長度：150mm(可擴展500mm)

     3.測量方式：軸向、斷面均可

4．數字電壓表：（1）量程：20mV(分辯率：10μV)、200mV、2V

             （2）測量誤差：±0.3%讀數±1字

             （3）輸入阻抗：大于10⁸Ω

             （4）顯示3 1/2 位紅色發光二管（LED）數字顯示

                  0---1999具有性、過載、小數點、單位自動顯示

5．恒流源：由交流供電，具有良好的防泄漏隔離功能

（1）       直流電流：0—100mA連續可調

（2）       量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA

（3）       分辯率：10nA、0.1μA、1μA、10μA、0.1mA

（4）       電流誤差：±0.3%讀數±2字

6．電性能模擬考核誤差：<±0.3%符合ASTM指標

7．測試探頭：（1）探針機械游移率：± 0.3% 符合ASTM 指標

8．電源：交流220V±10%   50HZ或60HZ  功率消耗< 30W

9．電氣箱外形尺寸：119×440×320mm

數字式四探針測試儀/四探針測試儀/數字式四探針檢測儀　型號：DP-SZT-2000

DP-SZT-2000型數字式四探針測試儀是根據四探針測試原理研究成功的多用途的綜合測量裝置，它可以測量棒狀、塊狀

半導體材料的電阻率和半導體擴散層的薄層電阻行測量，可以從10^-6--10⁵Ω—cm全量程范圍檢測硅的片狀、棒狀材料的電阻、薄層電阻，是硅材料質量監測的必需儀器。

儀器為臺式結構，分為電氣箱、測試架兩大部分，用戶可以根據測試需要安放在般工作臺或者用工作臺上，測試架由探頭及壓力傳動機構、樣品架組成，耐磨和使用壽命長的點。探頭內設有彈簧壓力裝置，壓力從0—2Kg連續可調，測試架設有手動和電動兩種裝置供用戶選購。

儀器電氣箱主要由靈敏的直流數字電壓表和穩定的恒流源組成，測量結果由數字直接顯示，儀器有自校量程，可以方便地對儀器的電氣性能行校驗。

儀器具有測量精度、靈敏度、穩定性好、測量范圍廣、結構緊湊、使用方便等點，儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科學研究、等院校，對半導體材料的電阻性能測試及工藝檢測。

儀器主要指標：

1．  范圍：電阻率10^-4—10³Ω—cm，可擴展至10⁵Ω—cm，分辯率為10^-6Ω—cm

         方塊電阻10^-3—10³Ω /□

         電阻10^-6—10⁵Ω

2．  可測半導體尺寸：直徑Φ15—150mm

3．  測量方式：軸向、斷面均可（手動測試架）

4．  數字電壓表（1）量程0.2mV、2mV、20mV、200mV、2V

  (2)測量誤差 0.2mV檔±（0.3%讀數+8字）

              2 mV檔以上±（0.3%讀數+2字）

  (3)輸入阻抗0.2mV、2mV擋10⁵Ω

              20mV檔以上>10⁸Ω

  (4)顯示3 1/2位數字顯示，0—1999

具有性和過載自動顯示，小數點、單位自動顯示

5．  恒流源：（1）電流輸出：直流電流0—100mA連續可調，由交流電源供給

   （2）量程：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 五檔

   （3）電流誤差：±（0.3%讀數+2字）

6．四探針測試探頭  （1）探頭間距：1mm   (2)探針機械游率：±0.3%

                   (3) 探針：Φ0.5mm    (4)壓力：可調

  7. 測試架：

  （1）手動測試架：探頭上升及下降由手動操作，可以用作軸向和斷面的單晶棒和硅片測試。

  （2）電動測試架：探頭的上升和下降由電動操作，設有自動控制器控制，探頭上升時間1S—99S可調，探頭下降時間1S—99S可調，壓力恒定可調（由砝碼來設定）同時設有腳踏控制裝置由腳踏開關控制探頭上下運動。

   8.電流：220V±10% 50HZ或60HZ：功率消耗<35W

9．    外形尺寸：電氣箱130×110×400mm

注:產品詳細介紹資料和上面顯示產品圖片是相對應的