特點
激光反射式檢測工作模式
輕敲式軟樣品成像能力，生物大分子及粉體納米材料檢測，超高分辨率
輕敲模式、相位模式
AFM接觸式形貌測量，原子力曲線采集顯示
STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲線測量功能
特殊設(shè)計液體池，具備液體中輕敲式AFM成像能力
深度陡度測量，三維顯示
納米材料粗糙度測量，顆粒粒徑度量及分布統(tǒng)計
實時觀測比照的形貌圖、摩擦力圖、相位圖、靜電力圖、磁力圖
實時多通道剖面圖顯示
專為科研和工業(yè)應(yīng)用設(shè)計，結(jié)構(gòu)小巧美觀
可 選配單分子操縱、局域電性能測量、納米刻蝕和加工功能
DSP全數(shù)字化控制，操作簡潔直觀
控制主機(jī)可以采用筆記本電腦，適合課堂現(xiàn)場演示
XY二維樣品移動平臺，快速搜索感興趣的樣品區(qū)域
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動保護(hù)針尖)
Windows全中文控制軟件，面 向?qū)ο笤O(shè)計
提供實驗標(biāo)準(zhǔn)光柵、云母和HOPG樣品
組合光學(xué)連續(xù)變倍顯微鏡，*的雙光路照明，樣品觀測范圍從1nm到20mm
360°*彩色CCD成像系統(tǒng)，方便系統(tǒng)調(diào)整，可實時樣品錄像
RS232/USB接口，無需任何計算機(jī)卡，安裝簡單迅速
技術(shù)指標(biāo)
探頭：
樣品尺寸：≤Φ30mm
樣品厚度：≤15mm
XYzui大掃描范圍：標(biāo)準(zhǔn)配置6μm×6μm，可選3μm×3μm， 10μm×10μm，
20μm×20μm，50μm×50μm,100μm×100μm
XY向分辨力：0.4nm(輕敲式)，0.25nm(AFM)，0.1nm(STM)
Z向分辨力：0.05nm(輕敲式,DNA定標(biāo))，0.03nm(AFM,云母定標(biāo))，0.01nm(STM,HOPG定標(biāo))
XY二維樣品移動平臺范圍：0~5mm
步進(jìn)馬達(dá)自動進(jìn)行針尖-樣品逼近(STM自動保護(hù)針尖)
僅需更換探針架，即可切換STM、接觸式AFM、輕敲模式
電化學(xué)針尖塊，液體池，液體輕敲式AFM成像功能(選配)
44～283X連續(xù)變倍彩色CCD觀察顯微系統(tǒng)
全金屬屏蔽防震隔音箱(選配)
精密隔震平臺(選配)
電子學(xué)控制器：
XYZ控制：18-bit D/A
數(shù)據(jù)采樣：14-bit A/D 、雙16-bit A/D多路同步采樣
Z向反饋：DSP數(shù)字反饋
反饋采樣速率：64.0kHz
高壓放大器：集成高壓運算放大器，zui大電壓范圍±170V
正弦波頻率掃描范圍：0~1000000Hz
正弦波幅度范圍：0~10.0V
zui大掃描率：〉40000點/秒
掃描角度：0~360°
掃描偏移：任意
圖像采樣點：256×256或512×512
步進(jìn)馬達(dá)控制：手動和自動進(jìn)退
計算機(jī)接口：RS232/USB口
計算機(jī)軟件：
運行于中文Windows 98/2000/XP操作系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)視窗工作界面
AFM輕敲模式、相位模式
AFM接觸模式（Contact Mode AFM）、摩擦力模式（LFM）功能
STM恒流模式、恒高模式功能(STM)
多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖
智能識別和控制系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)
DSP全數(shù)字控制的參數(shù)設(shè)置和采集
AFM激光檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能
針尖共振峰自動搜索功能
頻率-RMS（f-RMS）曲線測量功能
RMS-間隙（RMS-Z）曲線測量功能
原子力-間距（F-Z）曲線測量功能(AFM)
電流-電壓隧道譜（I-V曲線）測量功能(STM)
隧道電流-間隙（I-Z曲線）測量功能(STM)
靜電力成像模式功能（選配）
磁力成像模式功能（選配）
支持步進(jìn)馬達(dá)自動驅(qū)進(jìn)到掃描器中心
支持壓電掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正
樣品傾斜度線平均、偏置實時校正功能
實時調(diào)整本底及比例
定點實時測試I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)、RMS-Z功能
鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能
用戶任意定義調(diào)色板功能
圖像獲取文件連續(xù)存盤和自定義文件名,當(dāng)前全部工作環(huán)境參數(shù)同步保存功能
圖像在線瀏覽，連續(xù)圖像獲取文件動態(tài)重現(xiàn)，納米電影功能
圖形刻蝕模式、矢量掃描模式、納米操縱和加工模式（選配）
完備的在線式智能提示及全程幫助
樣品粒度、粗糙度分析
標(biāo)準(zhǔn)離線分析和處理功能
增加第二顯示器（選配）
