平行平晶
平行平晶是以光波干涉原理為基礎,平行平晶利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
平行平晶具有高精度的平面性和平行性。TKZM-III-28智能除塵控制儀TKZM-10/16.平行平晶
平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規和千分尺卡規等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,平行平晶每個系列各分六組,平行平晶每組四塊。功能:平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規和千分表等測量面平面度、平面平行度。平行平晶
TKZM-III-28智能除塵控制儀TKZM-10/16.平行平晶
平行平晶技術參數1、平面平晶標準規格尺寸規格 30mm 45mm 60mm 80mm 100mm 150mm 200mm 250mm 直徑 Φ30 Φ45 Φ60 Φ80 Φ100 Φ150 Φ200 Φ250 高度 15mm 15mm 20mm 20mm 25mm 30mm 40mm 45mm 2、平面平晶制成精度:1級 3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為: 平行平晶直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm 直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm 更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值,平行平晶根據國家標準。 4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為: 0.03μm 5、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃±3℃條件下保持數小時后進行。 平行平晶注:Ф200mm以上標準平面平晶、環形平面平晶需定做