ICT4040P 集成電路檢測儀
[ICT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利
用電腦來彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原
理的情況下，對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢
測到電路板上故障元器件。簡捷經濟地修好各種類型電路板。
ICT4040P 集成電路檢測儀產品特點：
◆*的測試技術，強大的驅動能力，任何故障原因的電路板皆可修好
◆友好簡單的中文操作界面，不經專業訓練，任何人均可成為維修專家
◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修
◆40/40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫
◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能
◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較
◆與進口同類儀器比較，性價比更優，操作更方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規模集成電路提供分析測試
◆本功能亦可通過學習記錄，比較分析來測試
ICT4040P/4080P/8080P 電路板故障檢測儀[ICT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利用電腦來彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下，對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢測到電路板上故障元器件。簡捷經濟地修好各種類型電路板。產品特點：◆*的測試技術，強大的驅動能力，任何故障原因的電路板皆可修好◆友好簡單的中文操作界面，不經專業訓練，任何人均可成為維修專家◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修◆40/40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫◆40/40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能◆電路板測試存儲功能，被測板可與之比較◆與進口同類儀器比較，性價比更優，操作更方便◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規模集成電路提供分析測試◆本功能亦可通過學習記錄，比較分析來測試全功能ASA+ICT測試器 ASA（Analong signature Analysis）對元件每個管腳提供一個安全、低功率的掃描驅動電壓信號，以便產生一個阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲，以備比對。所有測試都是在靜態下（不加電）執行，所以不會傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲各類IC每個管腳V/I曲線圖形，并且對各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。ICT（In circuit Testing）它能把待測元件與PC資料庫內相對應的元件資料作邏輯功能測試比較，測試時可在CRT上顯示元件管腳連接狀態，元件輸入管腳的輸入波形，同時顯示相應輸出管腳的實測波形及標準波形，以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測試IC好壞，也可測試分析，還可識別不明型號的IC。[ICT]系列檢測儀檢測更加可靠準確■ 功能測試軟件設上拉電阻——方便集電極開路門的測試 ■ 功能測試外供電源穩定可靠——各種大、中、小型被測電路板皆可測試 ■ 功能測試具有三態識別能力——可測三態器件和IC負載能力下降故障 ■ V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩定可靠 ■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試集成電路在線功能測試 本功能采用后驅動隔離技術，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲器等千余種集成電路。 1、快速測試：直接顯示測試結果，迅速確定可疑IC 2、分析測試：顯示全部測試過程，測試激勵。預期和實際響應，幫助分析故障原因 3、器件識別：查找無標記型號IC或同功能不同型號的IC。集成電路在線狀態測試通過好壞板上相應IC的狀態進行比較，找出有故障的IC。1、狀態學習：在線學習*IC的引腳關系，互連狀態和測試的激勵與響應，并存入數據庫中 2、狀態比較：同故障板上相應IC在線進行狀態比較，根據兩者差異判定IC好壞 3、狀態顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態資料。集成電路離線功能測試離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片 IC邏輯圖查詢可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數。V/I曲線測試 通過好壞板上相應節點的動態阻抗圈的異同判定故障節點及故障IC 1、曲線學習：在線學習*板上各節點的動態阻抗曲線（V/I曲線），并存入數據庫中 2、曲線比較：同故障板上相應節點的動態阻抗曲線進行比較，根據差異大小及維修經驗判定與此節點相關的IC是否損壞 3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節點的動態阻抗圖資料大規模集成電路分析測試網絡提取測試 使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系，輔助判斷芯片的好壞。實現網絡提取采用了四種模式： 1、探棒對探捧（“棒”—“棒”模式） 2、探捧對測試夾（“棒”—“夾”模式） 3、測試夾對探捧（“夾”—“棒”模式） 4、測試夾對測試夾（“夾”—“夾”模式）開發編譯 TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉換后即可與相應子測試關聯起來，隨時用熱鍵查看相應說明文件。 1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法 a）在TVED圖形界面上直接建立 b）讀入DCL語言的編譯結果 2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應，不斷對測試圖形加以調整、修改。3、4種測試方式：
a）完整執行一個測試 b）執行一個測試的一部分c）循環執行 d）單步運行型號 ICT4040P ICT4080P ICT8080P通道 ICTF: 40thV/I曲線:40th ICTF: 40thV/I曲線: 80th ICTF: 40×2thV/I曲線: 80th補充：ICT4080P/8080P系統功能·單個器件功能測試 ·IC狀態測試 ·VI曲線分析 ·PROM操作 ·LSI在線分析 ·數據庫整理 ·系統維修日記·器件端口特征曲線測試·使用原測試軟件·TVDE高級測試平臺·全面網絡測試 對應于“單個器件功能測試”中的12個功能 MSI在線功能測試 MSI離線功能測試 MSI在線型號識別 MSI離線型號識別 MSI在/離線循環測試 RAM離線*測試 RAM在線快速測試 RAM在線*測試 PROM離線空檢測 LSI離線功能測試 LSI在線功能測試 LSI離線測試庫更新對應于“PROM操作”中的11個子功能 PROM離線*學習 PROM離線*比較 PROM離線學習庫內容顯示 PROM離線學習庫內容轉換 PROM在線快速學習 PROM在線快速比較 PROM在線快速顯示 PROM在線*學習 PROM在線*比較 PROM在線*學習庫內容顯示 PROM在線*學習庫內容轉換對應于“VI曲線分析”中的4大功能 VI曲線學習 VI曲線比較 VI曲線顯示 雙板直接對比對應于“IC狀態測試”中的3大功能 IC狀態學習 IC狀態比較 IC狀態顯示對應于“LSI在線分析”中的3大功能 LSI在線學習 LSI在線比較 LSI在線顯示對應于主框架的17項功能按鈕 單個器件功能測試 IC狀態測試 VI曲線分析 PROM操作 LSI在線分析 模擬器件直接測試 系統自檢 數據庫整理 建立系統維修日記文件 原測試軟件 TVDE高級測試平臺 全面網絡測試 交疊方式排列窗口 非交疊方式排列窗口 分割窗口 主界面 進入系統幫助 對應于“模擬器件直接測試”菜單的3大功能 模擬器件直接測試 模擬器件型號識別 添加新器件熱鍵·Alt+L 進入“LSI在線分析”界面 ·Alt+M 進入“數據庫整理”界面·Alt+N 進入“全面網絡測試”界面 ·Alt+O 進入原測試軟件界面·Alt+R 進入“PROM操作”界面 ·Alt+S 進入“IC狀態測試”界面·Alt+T 進入“系統自檢”界面 ·Alt+V 進入“VI曲線分析”界面·F1 獲取幫助 ·Alt+X 退出本系統系統運行環境操作系統 ： Windows 98 或 Windows NTC P U ： PII 以上內 存 ： ≥16M硬盤空間 ： ≥25M鼠 標 ： *，可為任意型號顯 示 ： 1024×768，24位真彩色電 源 ： 220V/50Hz
