雙耀科技SY-TS120是一臺(tái)專門用于手機(jī)蓋板IR孔檢測(cè)的高性能透過率檢測(cè)儀，適用于微小區(qū)域平面濾光片的顯微透過率測(cè)量，如手機(jī)面板上IR小孔的透過率檢測(cè)，遙控器透過率檢測(cè)，使用特殊光路設(shè)計(jì)，大大增強(qiáng)光路耦合效率，使得能量比普通顯微光路增強(qiáng)10倍，此優(yōu)異的性能滿足積分球檢測(cè)的條件，故儀器采用積分球檢測(cè)，不存在普通鏡頭采集所產(chǎn)生的離焦色差問題，檢測(cè)信號(hào)更加準(zhǔn)確。

2 核心技術(shù)：

?  寬波段消色差技術(shù)：經(jīng)過特殊光學(xué)設(shè)計(jì)在400nm-1000nm波段內(nèi)色差控制非常好；

?  顯微共聚焦技術(shù)：采集光學(xué)系統(tǒng)僅接受透過樣品的光波，提高檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確性;

?  大數(shù)值孔徑技術(shù)：才用0.22光纖接入和采集;

?  積分球采集技術(shù)：解決離焦色差問題，總檢測(cè)時(shí)間約100ms-200ms；

?  底部反向照明技術(shù)：底部采用照明/采樣系統(tǒng)切換結(jié)構(gòu)。

2 軟件特點(diǎn)：

?  產(chǎn)品規(guī)格可錄入數(shù)據(jù)庫(kù)，測(cè)試可直接調(diào)取進(jìn)行快速檢測(cè)；

?  自定義代測(cè)產(chǎn)品檢測(cè)波長(zhǎng)，自定測(cè)試上下限；

?  自動(dòng)保存數(shù)據(jù)于本地磁盤數(shù)據(jù)庫(kù)，不清空以往測(cè)試記錄;

?  具有自動(dòng)產(chǎn)能分析報(bào)表功能;

?  配套232、IO串口輸出信號(hào)，可以高度配合自動(dòng)化設(shè)備;

?  可開放對(duì)接接口進(jìn)行二次開發(fā)，信號(hào)協(xié)議更變等。

2 規(guī)格參數(shù)：