四探針直流低電阻測(cè)試儀 （產(chǎn)品型號(hào)：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為光電科技有限公司配套設(shè)計(jì)，測(cè)試儀采用國(guó)內(nèi)高精度的直流低電阻測(cè)試儀及四探針頭生產(chǎn)廠商的四探針技術(shù)。適合實(shí)驗(yàn)室用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率的測(cè)試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試，需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購(gòu)前請(qǐng)咨詢(xún)我們)。
目前，該產(chǎn)品已經(jīng)被清華大學(xué)、華南理工大學(xué)、中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)、電子科技大學(xué)、華中師范大學(xué)、武漢大學(xué)、西安交通大學(xué)、天津大學(xué)、東北大學(xué)、暨南大學(xué)等學(xué)校的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室使用，產(chǎn)品遠(yuǎn)銷(xiāo)澳大利亞、馬來(lái)西亞、印度、伊朗、日本等國(guó)家和地區(qū)。
測(cè)試原理
1) 方塊電阻的定義及方阻與電阻率、電導(dǎo)率的關(guān)系 >>>>>（點(diǎn)擊查看）
2) 方塊電阻的測(cè)試原理 >>>>>（點(diǎn)擊查看）
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1) 電阻測(cè)試儀5個(gè)不同量程供選擇，不同量程不同測(cè)試電流，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性；
2) 電阻測(cè)試儀三檔自動(dòng)分選，適用同時(shí)快速檢測(cè)多個(gè)樣品的合格性能；
3) 四探針頭使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確；
4) 四探針頭控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μm，保證探針的小游移率；
5) 四探針頭采用特制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有獨(dú)立、準(zhǔn)確的壓力；
6) 四探針頭量具精度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動(dòng)，持久耐磨。
產(chǎn)品參數(shù)：
1) 儀器測(cè)量范圍：10 μΩ – 2.00 kΩ（四種不同量程測(cè)量范圍及分辨率、測(cè)試電流參見(jiàn)下表）
2) 分選檔數(shù)：3檔分選
3) 低電阻測(cè)試儀測(cè)試偏差：參見(jiàn)附表四測(cè)試結(jié)果(見(jiàn)產(chǎn)品操作手冊(cè))
4) 四探針頭類(lèi)型：直線四探針
5) 四探針頭探針材質(zhì)：碳化鎢
6) 四探針頭探針間距：1mm
7) 四探針頭探針間距偏差：<2 %
8) 四探針頭探針合力：4±1N
9）四探針頭探針壓痕直徑：200-400 μm
10）四探針頭探針機(jī)械游移率：<0.3 %
11）四探針頭探針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
12）四探針頭500V絕緣電阻：>1000 mΩ
13) 探針間距修正系數(shù)Fsp ：參見(jiàn)附表三標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定探針頭測(cè)試結(jié)果(見(jiàn)產(chǎn)品操作手冊(cè))
使用條件
1) 電源：220V AC，50Hz
2) 使用環(huán)境溫度：20-60 ℃
3) 使用環(huán)境濕度：≤75RH
應(yīng)用范圍
測(cè)量參數(shù)：方塊電阻、電阻率
測(cè)量樣品：均勻薄膜、均勻薄片
樣品大小：直徑>1cm
四探針直流低電阻測(cè)試儀 （產(chǎn)品型號(hào)：FP-001）
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為光電科技有限公司配套設(shè)計(jì)，測(cè)試儀采用國(guó)內(nèi)高精度的直流低電阻測(cè)試儀及四探針頭生產(chǎn)廠商的四探針技術(shù)。適合實(shí)驗(yàn)室用于ITO導(dǎo)電玻璃、FTO導(dǎo)電玻璃、AZO導(dǎo)電玻璃、柔性ITO導(dǎo)電膜、片狀金屬等膜層均勻的剛性導(dǎo)體膜層和半導(dǎo)體膜層的方塊電阻、電阻率的測(cè)試使用 (注：本產(chǎn)品使用小探針頭，不適合導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試，需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的，訂購(gòu)前請(qǐng)咨詢(xún)我們)。
目前，該產(chǎn)品已經(jīng)被清華大學(xué)、華南理工大學(xué)、中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)、電子科技大學(xué)、華中師范大學(xué)、武漢大學(xué)、西安交通大學(xué)、天津大學(xué)、東北大學(xué)、暨南大學(xué)等學(xué)校的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室使用，產(chǎn)品遠(yuǎn)銷(xiāo)澳大利亞、馬來(lái)西亞、印度、伊朗、日本等國(guó)家和地區(qū)。
測(cè)試原理
1) 方塊電阻的定義及方阻與電阻率、電導(dǎo)率的關(guān)系 >>>>>（點(diǎn)擊查看）
2) 方塊電阻的測(cè)試原理 >>>>>（點(diǎn)擊查看）
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1) 電阻測(cè)試儀5個(gè)不同量程供選擇，不同量程不同測(cè)試電流，保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性；
2) 電阻測(cè)試儀三檔自動(dòng)分選，適用同時(shí)快速檢測(cè)多個(gè)樣品的合格性能；
3) 四探針頭使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準(zhǔn)確；
4) 四探針頭控制寶石內(nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μm，保證探針的小游移率；
5) 四探針頭采用特制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有獨(dú)立、準(zhǔn)確的壓力；
6) 四探針頭量具精度的硬質(zhì)合金探針，在寶石導(dǎo)孔內(nèi)穩(wěn)定運(yùn)動(dòng)，持久耐磨。
產(chǎn)品參數(shù)：
1) 儀器測(cè)量范圍：10 μΩ – 2.00 kΩ（四種不同量程測(cè)量范圍及分辨率、測(cè)試電流參見(jiàn)下表）
2) 分選檔數(shù)：3檔分選
3) 低電阻測(cè)試儀測(cè)試偏差：參見(jiàn)附表四測(cè)試結(jié)果(見(jiàn)產(chǎn)品操作手冊(cè))
4) 四探針頭類(lèi)型：直線四探針
5) 四探針頭探針材質(zhì)：碳化鎢
6) 四探針頭探針間距：1mm
7) 四探針頭探針間距偏差：<2 %
8) 四探針頭探針合力：4±1N
9）四探針頭探針壓痕直徑：200-400 μm
10）四探針頭探針機(jī)械游移率：<0.3 %
11）四探針頭探針與導(dǎo)孔間隙：0.006mm
12）四探針頭500V絕緣電阻：>1000 mΩ
13) 探針間距修正系數(shù)Fsp ：參見(jiàn)附表三標(biāo)準(zhǔn)樣片檢定探針頭測(cè)試結(jié)果(見(jiàn)產(chǎn)品操作手冊(cè))
使用條件
1) 電源：220V AC，50Hz
2) 使用環(huán)境溫度：20-60 ℃
3) 使用環(huán)境濕度：≤75RH
應(yīng)用范圍
測(cè)量參數(shù)：方塊電阻、電阻率
測(cè)量樣品：均勻薄膜、均勻薄片
樣品大小：直徑>1cm
