渦輪葉片以及大型鑄件的CT掃描工作站
XT H 450
450kV微焦點射線源
Nikon Metrology提供的450kV微焦點X射線源。Nikon Metrology的320kV/450kV射線源的焦點尺寸，小到微米級別，因此可測量的部件種類更廣，且可進行分辨率和精度更高的檢查。
XTH450LC，應(yīng)用于渦輪葉片測定以及眾多中小型鑄件的無損檢測領(lǐng)域，并慢慢成為一種新的重要檢測標(biāo)準(zhǔn)。這個型號的機器核心450kV微焦點射線管源擁有優(yōu)異的解析度以及精度。搭配晶體光柵的高性能線陣探測器更是讓曲面效應(yīng)以及射線散射現(xiàn)象等得到根本解決，在渦輪葉片以及其他眾多金屬零件的檢測中得到近乎的效果。
的CLDA技術(shù)
Nikon Metrology研發(fā)的專用CLDA可優(yōu)化采集穿過部件的X射線，無需采集不需要的散射X射線。CLDA可避免圖像污染和因圖像污染造成的對比度衰減，從而實現(xiàn)出眾的圖像清晰度和對比度。曲線二極管陣列能使X射線到二極管接收器的路徑長度保持不變，進一步增強圖像質(zhì)量。用戶可使用較長的晶體來增強X射線的靈敏度，進而提高信噪比。
質(zhì)量控制、缺陷分析和材料研究
在需要重視內(nèi)部結(jié)構(gòu)的任何情況下，X射線和CT技術(shù)可以用作提供有價值信息的有效工具。內(nèi)部特性的詳細(xì)拍攝和測量對于各個行業(yè)的質(zhì)量控制、缺陷分析和材料研究而言至關(guān)重要。
▲ 故障檢測和缺陷分析
▲ 復(fù)雜機構(gòu)的裝配檢測
▲ 內(nèi)部組件的尺寸測量
▲ 部件-CAD對比
▲ 的材料研究
▲ 生物結(jié)構(gòu)的分析
▲ 模型的數(shù)字化存檔
主要特點
• 獨立的450kV微焦點射線源
• 可掃描樣品的尺寸達到直徑500mm，高度600mm
• 可走入式的大鉛房以及大型的樣品艙門讓樣品的放置以及維護檢測變得更加方便
• 五軸樣品操作臺載重可達100kg
• 高效率的線陣探測器與面陣平板探測器可以同時搭載以滿足不同需求。（選配）
• 專門為渦輪葉片定制的質(zhì)量合格判斷應(yīng)用程序。
引進功能
• 將靈活性整合到一個系統(tǒng)里:X射線快速可視化檢測，CT重構(gòu)精密解析
• 快速獲取高品質(zhì)圖像
• 人機交互式操作桿導(dǎo)航界面使用快速直觀
• 高清晰度數(shù)字圖像與圖像處理
• 不需要特別外加防護的完備安全系統(tǒng)
• 通用于業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)的后處理應(yīng)用格式
用途
• 渦輪葉片的內(nèi)部構(gòu)造與詳細(xì)分析
• 渦輪葉片的合格與否自動判定
• 幾十微米級別要求的金屬零件跟鑄件等的精度檢測
XT H 450 LC，用于葉片和鑄件的CT檢測，
帶有高功率450kV微焦點X射線源
Metris XT H 450 LC建立了渦輪葉片測量和中小鑄件NDT檢測的新參考標(biāo)準(zhǔn)。這臺功能強大的設(shè)備的核心部件是一個450kV微焦點源，可提供超高分辨率和超高精度。
彎曲的線性陣列探測器通過消除散射現(xiàn)象，優(yōu)化了X射線圖像的采集，散射現(xiàn)象通常會影響葉片和其它金屬件的二維射線照片。該探測器是一臺非常靈活的設(shè)備，可處理小金屬件到大金屬件，例如葉片、鑄件等
優(yōu)點 可靈活地整合在單個系統(tǒng)中：X射線可用于快速目視檢測，CT可用于深入分析
快速數(shù)據(jù)采集和高質(zhì)量圖像
高分辨率數(shù)字成像和處理
嵌入式安全裝置可使操作人員安全地操作該系統(tǒng)，無需任何特殊的預(yù)防措施或安全警示標(biāo)志
特性
的450kV微焦點源
測量體積可達600mm直徑和600mm高度
高效線性探測器，>80%量子檢測有效率
五軸可編程托盤式操縱器，帶精密滾珠絲桿和線性滑軌
特別適用于渦輪葉片的自動通過/不通過檢測
應(yīng)用
渦輪葉片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的詳細(xì)分析
葉片的自動通過/不通過檢測
需要微米精度的高密度部件檢測（例如金屬件、鑄件）
