DHT系列超低溫試驗(yàn)箱
多禾試驗(yàn)DHT®歐洲研發(fā)中心推出DHT系列超低溫試驗(yàn)箱，緊湊的設(shè)計(jì)，特別適合實(shí)驗(yàn)室，高校，研究所的低溫試驗(yàn)場(chǎng)所。DHT系列超低溫試驗(yàn)箱運(yùn)用DHSPLCON技術(shù)將超低溫試驗(yàn)箱使用壽命大大延長(zhǎng)。多禾試驗(yàn)，成型于歐洲，產(chǎn)銷于國(guó)內(nèi)，對(duì)標(biāo)，價(jià)格親民。DHT系列試驗(yàn)箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗(yàn)樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗(yàn)+濕度環(huán)境。適用于各類高校，專業(yè)實(shí)驗(yàn)室研究開發(fā)及對(duì)空間要求較用。DHT系列試驗(yàn)箱為電子、電工、儀表、零部件、材料等試驗(yàn)樣品提供穩(wěn)定的高低溫試驗(yàn)環(huán)境，以便在相應(yīng)環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)儲(chǔ)存后對(duì)產(chǎn)品性能做出分析及評(píng)價(jià)。
doaho®超低溫試驗(yàn)箱產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
全新設(shè)計(jì)理念
雙層真空大視窗設(shè)計(jì)，安全防霧，同時(shí)配備飛利浦高亮度照明
操作方便：采用彩色液晶觸摸屏，設(shè)定、顯示各種運(yùn)行數(shù)，同時(shí)控制器位置可隨時(shí)根據(jù)實(shí)際情況上下調(diào)節(jié)，增強(qiáng)使用者舒適度體驗(yàn)。
記錄量大：實(shí)時(shí)記錄大量采樣數(shù)據(jù)，并可實(shí)現(xiàn)在 PC機(jī)上打印曲線。
高可靠性：為提高整機(jī)的可靠性，主要部件經(jīng)嚴(yán)格考核，全部由各名專業(yè)廠商提供。
安全保護(hù)：溫度過升保護(hù)，試品保護(hù)，設(shè)備自身保護(hù)，操作人員安全保護(hù)等，安全考慮。
引進(jìn)，意大利控制系統(tǒng)，性能穩(wěn)定
可非標(biāo)定制
升降溫特性
doaho®超低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 IEC 60068-2-1:2007
GB/T2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 IEC 60068-2-2:2007
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化IEC 60068-2-14
GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分: 高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分: 低溫試驗(yàn)
doaho®超低溫試驗(yàn)箱配件清單
使用環(huán)境溫度：+5～+35℃ (降溫保障+5～+28℃)
安全配置：漏電保護(hù)、短路保護(hù)、壓縮機(jī)超壓保護(hù)、壓縮機(jī)過載保護(hù)、風(fēng)機(jī)過載保護(hù)、超溫保護(hù)、相序/缺相保護(hù)
附件標(biāo)準(zhǔn)配置：
照明燈*1
直徑50mm引線孔*2；硅膠塞*2
AISI304樣品架：2個(gè)（100L-1000L）
通訊方式： USB（標(biāo)配）
可調(diào)節(jié)腳輪：4只
doaho®超低溫試驗(yàn)箱選配清單
以太網(wǎng)/ /CF/SD存儲(chǔ)卡（選配）
RS485/232（選配）
