產品特點：
?損耗測試功能
- 測試長度最長50m
- 空間分辨率高達20um
- 回損測試靈敏度可達-130dB
- 回損測試動態范圍80dB
- 揑損測試動態范圍15dB
- 可提供全套硬、軟件解決方案
- 測試長度最長100m
- 空間分辨率可達1mm@50m
- 可提供全套硬、軟件解決方案
- 光子芯片傳輸損耗測量
- 芯片內損耗事件定位分析
- 光組件內部光鏈路損耗分析
- 芯片內光鏈路延時測量
- 分布式光纖應變、溫度傳感
- 3D光纖形狀傳感系統研發
| 技術指標 | 單位 | TranCT-215 |
| 損耗測試功能 | ||
| 中心波長 | nm | 1550 |
| 掃描范圍 | nm | 40 |
| 波長精度 | pm | 0.1 |
| 光鏈路測試長度 | m | 50 |
| 空間分辨率 | um | 20 |
| 回損測試范圍 | dB | 0~-125 |
| 回損靈敏度 | dB | -130 |
| 回損動態范圍 | dB | 80 |
| 回損測量分辨率 | dB | 0.1 |
| 回損測量精度 | dB | ±0.5 |
| 插損動態范圍 | dB | 15 |
| 插損分辨率 | dB | 0.1 |
| 插損精度 | dB | ±0.2 |
| 測試頻率 | Hz | 1 |
| 傳感功能 | ||
| 空間分辨率 | mm | 1@50m，10@100m |
| 應變測量范圍 | u? | ±15000 |
| 應變測量精度 | u? | ±5 |
| 溫度測量范圍 | ℃ | -200~1200 |
| 溫度測量精度 | ℃ | ±0.2 |
| 測試通道數 | - | 標準1，可定制 |
| 單次測試時間 | s | 5 |
