Sol致冷InGaAs/陣列近紅外光纖光譜儀推出的高性能線陣TE致冷銦鎵砷（InGaAs）陣列光譜儀，可選256元，512元（標配），或1024元。線陣銦鎵砷檢測器采用半導體致冷至-10℃，能有效降低暗噪聲、增大檢測器的動態(tài)范圍以及提高檢測限，這使得光譜儀可以用于更長積分時間下的檢測，例如對于微弱信號的檢測。
Sol致冷InGaAs/陣列近紅外光纖光譜儀配備了優(yōu)化的高速攝譜儀，采用SMA905標準光纖接口，并內(nèi)建16 位數(shù)模轉(zhuǎn)換器以及即插即用USB2.0數(shù)據(jù)傳輸接口。采用B&W Tek的操作軟件，用戶可選擇高靈敏度或高動態(tài)范圍模式。B&W Tek可根據(jù)用戶的不同應(yīng)用需要配置不同的光譜分辨率。
是許多近紅外應(yīng)用的理想配置。
特點：
• 紫外，可見近紅外增強響應(yīng)
• 900－1700nm 響應(yīng)范圍
• 光譜分辨率高達0.2nm
• TE致冷至-10℃/優(yōu)異的穩(wěn)定性
• 用戶可選高動態(tài)范圍/高靈敏度模式
• 更寬動態(tài)范圍
• 更高靈敏度
• 更低雜散光
應(yīng)用：
• 過程監(jiān)控
• 近紅外光譜
• 質(zhì)量控制
• 在線分析
• 材料鑒定
光譜儀技術(shù)參數(shù)：
| 直流輸入 | 5V DC, 3.5A |
| 交流輸入 | 100 - 240VAC 50/60 Hz, 0.5A @ 120VAC |
| 檢測器 | 線性InGaAs陣列檢測器 |
| 像元數(shù) | 512 × 1 @ 25µm × 500µm |
| 光譜儀F# | 3.5 |
| 光譜儀光路 | Crossed Czerny-Turner |
| 動態(tài)范圍 | 高動態(tài)范圍模式: 13,000:1 高靈敏度模式: 6,250:1 |
| 檢測器λ 峰值靈敏度 | 1500nm 左右 |
| 檢測器峰值反應(yīng) | 約10.5nV/光子 |
| 光柵 | 75－1200 線/mm，帶有不同的閃耀波長 |
| 狹縫 | 25－400μm 寬，取決于分辨率要求（狹縫高：1000μm） |
| 光譜范圍 | 900 -1700nm |
| 數(shù)字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 |
| 讀出速度 | 500 kHz |
| 數(shù)據(jù)傳輸速度 | 大于200譜/秒（USB 2.0 |
| 積分時間 | 200 µs-≥64s |
| 外觸發(fā) | Aux Port |
| 操作溫度 | 0-35℃ |
| TE致冷 | -10℃ |
| 重量 | ~1.4 kg |
| 尺寸 | 197mm × 109mm × 68mm |
| 計算機接口 | USB 2.0 / 1.1 |
| 操作系統(tǒng) | Windows XP, Vista （32-bit）, Win 7 |
