分析方法能量色散X熒光分析方法 測量元素范圍鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量 同時檢測元素數幾十種元素可同時分析 處理器和內存CPU：667MHz,內存：256M，擴展存儲支持32G，標配2G，可以海量存儲數據 含量范圍ppm～99.99% 檢測時間3-30秒 GPS、WIFI內置系統 檢測對象固體、液體、粉末 探測器25mm2 0.3mil，SDD探測器 探測器分辨率可達139eV 激發源40KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源 視頻系統高清晰攝像頭 顯示屏半透半反式液晶顯示觸摸屏，其分辨率是640*480 檢出限檢出限達ppm級 安全性自帶密碼管理員模式，數據可隨意保存 可充氣系統常壓充氦氣系統 數據傳輸數字多道技術，SPI數據傳輸，分析，高計數率 操作環境濕度≤90% 儀器外形尺寸234×306×82mm（L×H×W） 儀器重量1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）
手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環境、消費品等領域有著重要的應用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。手持式光譜儀在使用的時候，對于環境也是有一定的要求，不要在潮濕的環境下工作的，環境濕度0-95%之間為好，不能在太高溫下操作工作，這樣的理由是避免各類磁場的干擾，如此儀器分析的時候才能檢測出更的精度。所以，大家在工作的時候要注意環境的適合度，很多時候儀器檢測不標準跟環境還是有很大程度上的關系。
手持式光譜儀設備維護與保養：
1.手持式光譜儀使用過程中應輕拿輕放，防止內部零件受損。
2.保持檢測口薄膜的清潔，檢測口薄膜被污染可能引起檢測誤差。檢測口薄膜破損繼續使用可能會造成手持式光譜儀的損壞。應及時清潔或更換。
3.被檢測物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機或金剛砂去除，以免造成測量結果不準確，被檢測物表面凹凸不平、有毛刺時應在檢測時注意，防止手持式光譜儀檢測口薄膜損壞。檢測鍍件時，要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時，應更換電池，充電。
手持式光譜儀如何正確使用 手持式光譜儀在使用的時候，對環境有一定的要求。不要在潮濕的環境下工作，環境濕度0-95%之間為好；不能在高溫下操作工作。這樣，避免各類磁場的干擾，儀器分析的時候才能檢測出更高的精度。所以，大家在工作時候要注意環境適度，很多時候儀器檢測不標準跟環境有很大程度上的關系。 手持式光譜儀對于操作人員有一定要求。測試樣品前，一定要請儀器廠商人員現場演示，并且對技術人員做操作前的培訓。因為這款儀器是檢測元素，那么一定會要做放樣檢測，所以，技術人員還需要做好防。 對手持式光譜儀操作的技術人員，在使用儀器檢測樣品的時候，先要把儀器前方的圓孔對準需要檢測樣品的點，儀器要貼在上面，在扣動開始檢測的時候，技術人員的手一定不能抖動，否則會影響到檢測的數據結果。 對于檢測的樣品也有要求。被測的物品表面必須保持整潔，才能避免其他元素的干擾。被測物品的表面有油污，或重金屬污染，檢測出來的結果度沒那么高。 手持式光譜儀的操作看起來很復雜，只需按照技術人員的指示一步步操作，沒你想的那么復雜了。
技術參數： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統：Peltier 半導體冷卻系統 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 濕度：0～95%
手持式光譜儀使用注意事項
1.使用手持式光譜儀應注意防護，手持測試時，測試窗口切勿對人，勿空打。
2.分析儀應拿妥，帶好腕帶，切勿摔落及撞擊。
3.不能用指甲掐電源鍵等塑料按鍵，要用指腹操作，以免損壞塑膠鍵。
4.手持式光譜儀操作環境溫度為-5℃~25℃，端使用溫度為-10℃~49℃，不能將手持式光譜儀放在汽車后備箱等高溫地方，若手持式光譜儀過熱，應停止工作、關機使其冷卻10分鐘左右，再重新開機、校正使用。 5.不能檢測磁性材料，否則造成手持式光譜儀損壞，不使用時應確實關機并放入手持式光譜儀箱中存放。
