產品詳情：
1、產品特點：
第四代同步加速器的技術：
EIGER2 X/XE CdTe探測器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學家設計的。單個像素尺寸僅為75µm，且對能量到達100keV的光子仍有很高的量子效率。由于死時間為零，所以每幀之間不會丟失光子。兩個可調的能量閾值可以同時區分熒光背景（低能閾值）并且測量高次諧波的影響（高能閾值）。計數速率高達107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測器性能優異且易于集成和操作。
2、核心優勢：
– 高量子效率范圍達100KeV
– 無圖像延遲或余輝
– 計數速率高達107光子/秒/像素
– 雙能量閾值
– 電子門控觸發
– 有效面積大
3、應用領域：
– x射線衍射(單晶和粉末)
– 現場和原位技術
– 衍射顯微鏡和層析成像
– 漫散射和對分布函數
| 型號 | EIGER2 X CdTe 500K | EIGER2 X CdTe 1M | EIGER2 X CdTe 4M | EIGER2 X CdTe 9M | EIGER2 X CdTe 16M | EIGER2 XE CdTe 9M | EIGER2 XE CdTe 16M |
| 有效面積：寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
| 像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
| 總像素數量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 | 3108 x 3262 | 4148 x 4362 |
| 間隙寬度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
| 幀頻* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
| 計數器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
| 讀出時間 | 連續讀數 | ||||||
| 點擴散函數 | 1 pixel | ||||||
| 傳感器材料 | CdTe | ||||||
| 傳感器厚度 [μm] | 750 | ||||||
| 能量范圍 [keV] | 8-100 | ||||||
| 計數率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
| 尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
| 重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
| 冷卻方式 | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） | 水冷（模塊）/風冷（電子學） |
