LDJD-B型介質損耗因數(shù)測試儀在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
適用標準
GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法》（等效IEC 60250：1969）
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法》
ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》
LDJD-B型介質損耗因數(shù)測試儀主要參數(shù)：
*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 10kHZ-70MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
3．Q值測量范圍：1～1023
4．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔；
*5．電感測量范圍：1nH～8.4H 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6．電容直接測量范圍：1pF～2.5uF
*7．主電容調節(jié)范圍：30～540pF
8.準確度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信號源頻率覆蓋范圍10kHz～70MHz
10．合格指示預置功能范圍：5～1000
11．環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：約25W；電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13. S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質損耗因數(shù)tanδ測試裝置：
數(shù)顯式微桿
平板電容器：
極片尺寸： 38mm
極片間距可調范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測微桿分辨率：0.001mm
測試極片：材料測量直徑Φ38mm厚度可調 ≥ 15mm
*液體杯：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1：
分別由0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九個電感組成。
15. 主機尺寸：（寬×高×深）mm：380×132×280
16. 重量約：7KG
產品特點
北京航天偉創(chuàng)設備科技有限公司新研制的產品，它以DDS數(shù)字直接合成方式產生信號源，頻率范圍達10kHZ-70MHZ，信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅度穩(wěn)定的優(yōu)點，更保證了測量精度的精確性。LDJD-B主電容調節(jié)用傳感器感應，電容讀數(shù)精確,且頻率值可設置。
LDJD-B型介電常數(shù)及介質損耗測試儀的電容、電感、Q值、頻率、量程都用數(shù)字顯示，在某一點頻率下，只要能找到諧振，都能直接讀出電感、電容值，大大擴展了電感的測量范圍，而不再是固定的幾個頻率下才能測出電感值的大小。LJD-B*的諧振點頻率自動搜索或電容自動搜索功能，能幫助你在使用時快速地找到被測量器件的諧振點，自動讀出Q值和其它參數(shù)。Q值量程可手動或自動轉換。
