具體應(yīng)用于：
1. 雙通道獨(dú)立使用，可同時(shí)進(jìn)行兩組常規(guī)電化學(xué)測(cè)試；
2.雙通道組合使用，可用于電化學(xué)分析四電極工作體系，尤其在氧還原（ORR）中間產(chǎn)物收集、金屬氫擴(kuò)散測(cè)試有廣泛應(yīng)用。
技術(shù)優(yōu)勢(shì)
CS2150H雙恒電位儀不僅具有CS單通道系列高精度、寬量程以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析處理功能，而且在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上創(chuàng)新突破。 CS2150H國(guó)內(nèi)的雙通道硬件設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)兩組實(shí)現(xiàn)體系的測(cè)試要求，同時(shí)，軟件的組合編程功能大大提高了實(shí)驗(yàn)的便利性。
CS2150H雙恒電位儀功能方法
開(kāi)路電位測(cè)量（OCP）、恒電位極化（i-t曲線(xiàn)）、恒電流極化、動(dòng)電位掃描（TAFEL曲線(xiàn)）、動(dòng)電流掃描（DGP）
暫態(tài)極化
任意恒電位階梯波、任意恒電流階梯波、恒電位階躍（VSTEP）、恒電流階躍（ISTEP）
伏安分析
線(xiàn)性?huà)呙璺卜ǎ↙SV）、線(xiàn)性循環(huán)伏安法（CV）
腐蝕測(cè)量
循環(huán)極化曲線(xiàn)（CPP）、線(xiàn)性極化曲線(xiàn)（LPR）、動(dòng)電位再活化法（EPR)、電化學(xué)噪聲（EN）、電偶腐蝕測(cè)量（ZRA）、氫擴(kuò)散測(cè)試
電池測(cè)試
電池充放電測(cè)試、恒電流充放電、恒電位充放電、恒電位間歇滴定技術(shù)（PITT）、恒電流間歇滴定技術(shù)（GITT）
擴(kuò)展測(cè)量
盤(pán)環(huán)電極測(cè)試、數(shù)字記錄儀
硬件參數(shù)指標(biāo)
| 雙恒電位儀： 單恒電位電位控制范圍：±10V 雙恒電位儀電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍：±2A |
| 電位控制精度：0.1%×滿(mǎn)量程讀數(shù)±1mV | 電流控制精度：0.1%×滿(mǎn)量程讀數(shù) |
| 電位靈敏度：10μV(>100Hz), 3μV(<10Hz) | 電流靈敏度：1pA |
| 電位上升時(shí)間：＜1μs(<10mA),＜10μs(<2A) | 電流量程：2A～2nA, 共10檔 |
| 參比電極輸入阻抗：1012Ω||20pF | 輸出電流：2A |
| 槽壓輸出：±21V | 電流掃描增量：1mA @1A/mS |
| CV和LSV掃描速度：0.001mV～10,000V/s | 電位掃描電位增量：0.076mV @1V/mS |
| CA和CC脈沖寬度：0.0001～65,000s | DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s |
| SWV頻率：0.001～100KHz | CV的最小電位增量：0.075mV |
| AD數(shù)據(jù)采集：16bit@1MHz，20bit @1kHz | 電流與電位量程：自動(dòng)設(shè)置 |
| DA分辨率：16bit，建立時(shí)間：1μS | 低通濾波器 ：8段可編程 |
| 通訊接口：網(wǎng)口 | 儀器凈重：7.5Kg |
| 外形尺寸（cm）：36.5(W)X30.5 (D)X16 (H) |
配置
1）儀器主機(jī)1臺(tái)
2）CS Studio測(cè)試與分析軟件1套
3）模擬電解池1個(gè)
4）電源線(xiàn)、網(wǎng)線(xiàn)各1條
5）電極電纜線(xiàn)2條
6）屏蔽箱（選配*）
