一、簡介：
邊界掃描技術也就是通常所指的IEEE1149.1標準，是由的JTAG工作小組起草并且批準實施的行業(yè)標準，已經(jīng)在行業(yè)中得到了廣泛的應用，所以通常也稱邊界掃描技術為JTAG技術，又稱邊界掃描接口為JTAG接口。作為復雜數(shù)字電路故障診斷專用技術，目前行業(yè)對JTAG的支持已經(jīng)比較充分，元器件廠商、EDA工具廠商以及自動測試儀器廠商都推出大量的技術、產(chǎn)品和設備并且成功應用于電子系統(tǒng)設計、生產(chǎn)和維護等產(chǎn)品生命周期全流程。
博基興業(yè)代理的美國ASSET InterTech公司是邊界掃描市場的，成立于1995年，專注邊界掃描工具的開發(fā)，所研制的邊界掃描開發(fā)平臺不僅供應了思科、諾基亞、摩托羅拉等客戶，更得到美國雷神公司、通用動力、洛克.馬丁公司等的青睞，而且在泰瑞達的HSSub、洛.馬公司的LM-STAR等測試系統(tǒng)中得到集成使用。
二、ASSET邊界掃描測試平臺ScanWorks測試系統(tǒng)組成介紹
ScanWorks軟件功能：
1 根據(jù)網(wǎng)絡表和JTAG芯片的BSDL文件，產(chǎn)生包含所需要的測試數(shù)據(jù)串（脈沖序列代碼）的測試程序；
2 生成儲存器和可編程器件在線燒錄數(shù)據(jù)；
3 生成測試覆蓋率報告；
4 測試錯誤的分析診斷（管腳級）及圖形顯示；
5 程序測試；
6 執(zhí)行儲存器測試；
7 可編程期間程序燒錄；
四、系統(tǒng)主要功能
- Extended Boundary Scan Test 標準測試（基礎測試、互聯(lián)測試、簇測試、內(nèi)存測試）
- Control of External Instruments
- 可與ICT測試設備配合使用
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可與AOI測試設備配合使用
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可與功能測試配合使用
- Flash/PLD Programming
對高速Flash進行燒寫，壞塊檢測
PLD在線編程（JAM/STAPL/SVF）
支持IEEE1532標準，可并行對PLD編程 - Graphical Analysing and Debugging
- 可具體對器件管腳靈活控制，具有單步及連續(xù)運行的診斷功能
-
可準確定位故障點，通過故障網(wǎng)絡可直接定位到原理圖和PCB
支持IEEE1149.4標準，對模擬電路進行測試 對直流耦合、交流耦合、差分信號等高速信號測試 支持Built-inself-Test(BIST)支持腳本，可對模數(shù)混合電路進行測試 。
客戶眾多，緊跟測試世界測試技術的前沿，產(chǎn)品不斷滿足各大客戶測試的需要。
