產品介紹
FT測試系統的FT-N配置（噪聲/響應參數的測量）
FT測試系統FT-I配置（成像質量參數測量）
FT測試系統的FT-S配置（光譜參數測量）
紅外焦平面陣列是熱成像系統最重要的核心部件。探測器電路（核心）的設計是熱成像系統的關鍵部分。因為紅外焦平面陣列的參數決定了熱像儀系統的性能極限，紅外焦平面技術或熱像儀技術方面的專業人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數方面的知識。因此，測量紅外焦平面陣列性能的測量設備是研發紅外熱成像系統的關鍵。
FT是一個完備的測試系統，它產生精確控制時空分布的紅外，輻射到紅外焦平面的輸入平面來控制被測紅外焦平面；最后對被測紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）進行表征所需的輸出信號進行半自動分析。
該系統能夠測量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數（噪聲/靈敏度、成像質量和光譜參數）。可測試不同光譜波段（LWIR或MWIR）、冷卻或非冷卻的探測器。FT系統可以在一系列版本中提供，并針對不同測試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進行優化，還可以選擇能夠測試完整的熱像儀的超擴展版本。
FT測量系統一個模塊化的系統，可以方便快速地配置成三個半獨立的測量工作站：FT-N，FT-I，和FT-S。
1.FT-N——噪聲和響應參數的測量；
2.FT-I——成像質量參數的測量
3.FT-S——光譜參數測量。
產品參數
紅外焦平面陣列的參數可分為三大類：
噪聲/靈敏度參數：
1.標準噪聲特性：NETD（高頻時間噪聲）、FPN（高頻空間噪聲）、不均勻性（低頻空間噪聲），
2.響應參數：SiTF，線性，動態范圍，飽和水平，
3.高級噪聲參數：3D噪聲模型、NPSD、1/f噪聲、壞像素數和壞像素定位，
4.D*（歸一化探測率）和相關參數可選（需要知道FPA的積分時間）。
圖像質量參數：
1.調制傳遞函數MTF，
2.能量損耗（PVF），
3.串擾。
光譜參數：
1. 相對光譜靈敏度（平均值、偏差、信號相關性）
FT測試系統可以以不同版本、不同測試能力和不同價格水平交付。
可使用下表所示的代碼精確確定版本。
A | B | |
編號 | 測試能力 | 測試完整的熱像儀 |
1 | 噪聲/相應參數 | 否 |
2 | 成像參數 | 是 |
3 | 光譜參數 | |
4 | 噪聲相應和成像參數 | |
5 | 所有參數 |
示例代碼：
代碼FT40–測量紅外焦平面傳感器/攝像機芯的噪聲/響應和成像參數的系統。不能測試完整的熱像儀。
代碼FT52-測量紅外焦平面傳感器/攝像機核心的噪聲/響應、成像和光譜參數的系統。能夠測試完整的熱像儀。
