產品關鍵詞：深能級瞬態譜儀、深能級能譜儀、多功能載流子特性分析系統、半導體參數測試、載流子特性分析系統、強度調制光電流譜、強度調制光電壓譜、DLTS、線性增壓測試、線性增壓載流子抽取、阻抗譜分析儀、電容電壓測試

Product Keywords: Deep level transient Spectrometer, deep level energy spectrometer, multi-function carrier characteristic analysis system, semiconductor parameter testing, carrier characteristic analysis system, intensity modulated photocurrent spectrum, intensity modulated photovoltage spectrum, DLTS, linear boost test, linear boost carrier Extraction, impedance spectrum analyzer, capacitor voltage test

產品簡介

UltraTran是一款集成了多種光電測試功能的儀器設備，專門針對半導體材料和器件的電學與光電特性進行精確測量，尤其適用于發光（OLED、PeLED等）與光伏器件（OPV、晶硅PV、異質結疊層PV等），該設備核心功能包括：1）斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）、階梯電壓電流測試（Step- IV）和脈沖電壓電流測試（Pulse-IV）。這些測試模式使得用戶能夠以不同的電學激勵方式對樣品進行掃描，從而獲得關于樣品在不同激勵下的電學性質。Ramp-IV以連續的方式提供電壓掃描，適用于捕捉材料響應的連貫變化；Step-IV則以逐步階梯的方式提供電壓，適合觀察材料在不同電壓階躍下的穩態行為；而Pulse-IV通過短時的電壓脈沖，允許研究器件的動力學IV特性，也可以有效減少器件的熱阻，增加器件的注入電流。2）UltraTran還提供了開關瞬態光電流（on-off TPC）和開關瞬態光電壓（on-off TPV）測試，這些功能適合于研究材料在光照激發下的上升和下降過程【瞬態光電流/光電壓/光電荷測試參考我司TranPVC產品】。3）暗注入瞬態特性測試（DIT）和深能級瞬態譜（DLTS）是可以用于探測和分析半導體中的陷阱和缺陷狀態。DLTS技術尤為擅長于識別和量化材料中的微小缺陷濃度，為改善半導體材料質量提供關鍵信息。4）設備還支持暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）和光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV），這兩種模式能夠測定電荷在半導體內的傳輸和復合機制，得到遷移率等參數。5）等效電荷抽取測試（CE），可以研究器件的電荷濃度。6）阻抗譜測試（IS）、電容電壓測試（CV）等功能則為設備增加了額外的維度，使其能夠全面評估材料的阻抗和介電性能。7）強度調制光電流譜（IMPS）和強度調制光電壓譜（IMVS）為研究者提供了一種方法來探究材料對光強變化的頻率響應，這對于光伏材料和應用尤為重要。8）電致發射譜（ELS）為研究材料的電致發光特性，得到光譜、色坐標等參數。

測試功能

□ 斜坡電壓電流測試（Ramp-IV）；

□ 階梯電壓電流測試（Step-IV）；

□ 脈沖電壓電流測試（Pulse-IV）；

□ 開關瞬態光電流（on-off TPC）；

□ 開關瞬態光電壓（on-off TPV）；

□ 深能級瞬態譜（DLTS）；

□ 暗注入瞬態特性測試（DIT）；

□ 暗態線性增壓電荷抽取測試（Dark-CELIV）。

□ 光態線性增壓電荷抽取測試（Photo-CELIV）；

□ 電荷抽取測試（CE）；

□ 阻抗譜測試（IS）；

□ 電容電壓測試（CV）；

□ 強度調制光電流譜（IMPS）；

□ 強度調制光電壓譜（IMVS）；

□ 電致發射譜（ELS）；

產品應用

□ 半導體：有機半導體、金屬-有機框架、共價有機框、鈣鈦礦材料、二維材料、元素半導體（Si、Ge等）、化合物半導（InGaAs等）、寬帶隙第三代半導體、量子點半導體、其它半導體材料；

□ 光伏材料器件；

□ 發光材料器件；

□ 光催化材料器件。

技術參數