Mosfet檢測試分析 ** 華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
“華則檢測”專業的第三方檢測機構
Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA：“華則檢測”專業的第三方檢測機構。具有CNAS和CMA認證資質，擁有多個設備、專業人員、制度規范的大型綜合“第三方公正檢測實驗單位”，對外提供檢測測試和驗證等服務。
Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA：“華則檢測”主要業務包含功率器件參數檢測、半導體可靠性檢測、半導體環境老化試驗分析、應用級系統分析、半導體失效分析、車用分立器件可靠性測試認證、車用功率模塊可靠性測試認證、力學實驗、氣候環境實驗等領域，
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服務目錄
Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
一、失效分析測試·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：開短路檢測 4
(2) 檢測項目：漏電檢測 4
(3) 檢測項目：產品外觀或形貌確認 4
(4) 檢測項目：尺寸測量 4
(5) 檢測項目：超聲波檢測(SAT) 4
(6) 檢測項目：X-ray檢測 5
(7) 檢測項目：推拉力檢測 5
(8) 檢測項目：有害物質檢測 5
(9) 檢測項目：剖面分析 5
(10) 檢測項目：樣品開封 5
二、電學檢測 ·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：直流參數 6
(2) 檢測項目：雪崩能量 6
(3) 檢測項目∶柵極電阻 6
(4) 檢測項目：開關時間（器件級） 6
(5) 檢測項目：開關時間（模塊級） 6
(6) 檢測項目：反向恢復（模塊級） 6
(7) 檢測項目：反向恢復（器件級） 6
(8) 檢測項目：柵極電荷（模塊級） 7
(9) 檢測項目：柵極電荷（器件級） 7
(10) 檢測項目：短路耐量能力（模塊級） 7
(11) 檢測項目：短路耐量能力（器件級） 7
(12) 檢測項目：結電容 7
(13) 檢測項目：熱阻性能（器件級） 7
(14) 檢測項目：熱阻性能（模塊級） 7
(15) 檢測項目：參數曲線掃描 8
(16) 檢測項目：ESD能力 8
(17) 檢測項目：正向浪涌能力 8
三、應用系統檢測 ·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：電氣參數 9
(2) 檢測項目：保護功能測試 9
(3) 檢測項目：元器件應力測試 9
(4) 檢測項目：電氣/抗電強度測試 9
(5) 檢測項目：絕緣電阻測試 10
(6) 檢測項目：接地電阻測試 10
(7) 檢測項目：低溫測試 10
(8) 檢測項目：高溫測試 10
(9) 檢測項目：高加速壽命/應力測試 10
(10) 檢測項目：靜電放電抗擾度測試 10
(11) 檢測項目：雷擊浪涌抗擾度測試 10
(12) 檢測項目：電源端子騷擾電壓/傳導測試 11
四、可靠性測試 ·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：功率循環齷 (PC) 12
(2) 檢測項目：高溫門極試驗(HTGB) 12
(3) 檢測項目：低溫工作壽命試驗(LTOL) 12
(4) 檢測項目：低溫儲存試驗(LTSL) 12
(5) 檢測項目：高低溫循環試驗(TC) 12
(6) 檢測項目：穩態功率試驗(SSOL) 12
(7) 檢測項目：無偏壓的高加速應力試驗(UHAST) 13
(8) 檢測項目：預處理試驗(Pre-con) 13
(9) 檢測項目：高溫反偏試驗(HTRB) 13
(10) 檢測項目：高溫工作壽命試驗(HTOL) 13
(11) 檢測項目：高溫儲存試驗(HTSL) 13
(12) 檢測項目：高溫高濕試驗(THB) 13
(13) 檢測項目：間歇壽命試驗(IOL)功率循試驗(PC) 13
(14) 檢測項目：高加速應力試驗(HAST) 14
(15) 檢測項目：高溫蒸煮試驗(PCT) 14
(16) 檢測項目：潮氣敏感度等級試驗(MSL) 14
(17) 檢測項目：可焊性試驗(Solderability) 14
一、失效分析測試·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：開短路檢測
? 覆蓋產品：IC
? 檢測能力：滿足128pin及以下引腳IC的open/short測試、曲線跟蹤分析、漏電流測試；Max電壓7V，電壓精度1mV，Max電流 500mA，電礪度 10nA；
? 執行標準：客戶要求
(2) 檢測項目：漏電檢測
? 覆蓋產品：IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力：具有EMMI (微光)和TIVA (激光誘導)兩種偵測方 式；加電方式A：電壓20mV-200V，電流10nA-1A，電流精度 10fA；加電方式B：Max電壓3000V，Max電流5A。
? 執行標準：客戶要求
(3) 檢測項目：產品外觀或形貌確認
? 覆蓋產品：IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力：立體成像/Max45倍；金相成像/Max1000倍；數碼成像/Max6000倍；
? 執行標準：客戶要求
(4) 檢測項目：尺寸測量
? 覆蓋產品：IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力：立體成像/Max45倍；金相成像/Max1000倍；數碼成像/Max6000倍；
? 執行標準：客戶要求
(5) 檢測項目：超聲波檢測(SAT)
? 覆蓋產品∶ IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力∶具有分層面積百分比計算，缺陷尺寸標識，厚度與距離測量等功能。可進行A-scan（點掃描）、B-scan（縱向掃描）、 C-scan（橫向掃描）、Through-scan（透射掃描）。
? 執行標準∶GuoJun標
(6) 檢測項目：X-ray檢測
? 覆蓋產品：IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力：High分辨率0.5um。具有空洞面積百分比計算，缺陷尺寸標識，厚度與距離測量等功能。可進行二維掃描、三維CT掃描。
? 執行標準：GuoJun標
(7) 檢測項目：推拉力檢測
? 覆蓋產品∶ IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力∶支持WP100和WP2.5KG二款拉力測試頭，測試范圍0- 2.5Kg;支持BS250、BS5KG和DS100KG三款推力測試頭，測試范圍0-100Kg，推刀接受面寬0-8891um。
? 執行標準∶ GuoJun標
(8) 檢測項目：有害物質檢測
? 覆蓋產品∶IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力∶ 支持鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）、六價鉻（Cr6+）、多溴聯苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE），以及鹵素等其他化學元素的檢測。主要元素Pb/Cd/Hg/Cr/BrMini檢測限可達2ppm。
? 執行標準∶ IEC
(9) 檢測項目：剖面分析
? 覆蓋產品：IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力：金相樣品制備、樣品觀察、樣品染色。
? 執行標準：客戶要求
(10) 檢測項目：樣品開封
? 覆蓋產品：IC，分立器件，模塊等產品
? 檢測能力：激光開封、化學開封、樣品剝層。
? 執行標準：客戶要求
二、電學檢測·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：直流參數
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE等模塊產品；
? 檢測能力：檢測Max電壓7500V檢測Max電流6000A
? 執行標準：國標，IEC
(2) 檢測項目：雪崩能量
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE，第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力：檢測Max電壓2500V檢測Max電流200A
? 執行標準：美軍標
(3) 檢測項目∶柵極電阻
? 覆蓋產品∶MOSFET、IGBT及第三代半導體器件
? 檢測能力∶檢測阻抗∶0.1Ω～50Ω
? 執行標準∶JEDEC
(4) 檢測項目：開關時間（器件級）
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導體單管器件；
? 檢測能力：Max電壓1200V Max電流200A
? 執行標準：美軍標，國標，IEC等
(5) 檢測項目：開關時間（模塊級）
? 覆蓋產品：IGBT等模塊產品
? 檢測能力：檢測Max電壓2700V檢測Max電流4000A
? 執行標準：國標，IEC
(6) 檢測項目：反向恢復（模塊級）
? 覆蓋產品：IGBT等模塊產品
? 檢測能力：檢測Max電壓2700V檢測Max電流4000A
? 執行標準：國標，IEC
(7) 檢測項目：反向恢復（器件級）
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力：Max電壓1200V Max電流200A
? 執行標準：美軍標，國標，IEC等
(8) 檢測項目：柵極電荷（模塊級）
? 覆蓋產品：IGBT等模塊產品
? 檢測能力：檢測Max電壓2700V檢測Max電流4000A
? 執行標準：國標，IEC
(9) 檢測項目：柵極電荷（器件級）
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力：Max電壓1200V Max電流200A
? 執行標準：美軍標，國標，IEC等
(10) 檢測項目：短路耐量能力（模塊級）
? 覆蓋產品：IGBT等模塊產品
? 檢測能力：檢測Max電壓2700V，檢測Max電流10000A
? 執行標準：國標，IEC
(11) 檢測項目：短路耐量能力（器件級）
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE及第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力：檢測Max電壓1200V，檢測Max電流1000A；
? 執行標準：美軍標，國標，IEC等
(12) 檢測項目：結電容
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT及第三代半導體單管器件
? 檢測能力：檢測Max電壓3000V
? 執行標準：IEC
(13) 檢測項目：熱阻性能（器件級）
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR，第三代半導體單管器件
? 檢測能力：功率250W
? 執行標準：美軍標，JEDEC
(14) 檢測項目：熱阻性能（模塊級）
? 覆蓋產品：IGBT等模塊產品
? 檢測能力：Max功率4000W
? 執行標準：美軍標，JEDEC
(15) 檢測項目：參數曲線掃描
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR，第三代半導體器件等單管器件的l-V、C-V曲線
? 檢測能力：檢測Max電壓3000V檢測Max電流1500A溫度-70°C~180°C
? 執行標準：美軍標，IEC等
(16) 檢測項目：ESD能力
? 覆蓋產品：MOSFET、IGBT、IC等產品
? 檢測能力：HBMMax電壓8000V；MMMax電壓800V
? 執行標準：美軍標，ANSI，JEDEC等
(17) 檢測項目：正向浪涌能力
? 覆蓋產品：DIODE (Si/SiC)、整流橋；
? 檢測能力：Max電流800A
? 執行標準：美軍標，國標
三、應用系統檢測·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：電氣參數
? 覆蓋產品：開關電源(例如低壓AC/DC電源，低壓DC/DC電源，直流充電樁電源模塊等)、電機控制板。
? 檢測能力：低壓AC/DC電源：單相Max輸入電壓/功率為 300V/3KVA；Max輸出電壓/功率：80V/1000W；低壓DC/DC電 源：Max輸入電壓/功率為80V/1.2KW；Max輸出電壓/功率： 80V/1000W；直流充電樁電源模塊：三相Max輸入電壓/功率為 500V/30KVA；Max輸出電壓/功率：700V/30KW；電機控制板： 直流輸入電壓/功率100V/5KW
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
(2) 檢測項目：保護功能測試
? 覆蓋產品：開關電源(例如低壓AC/DC電源，低壓DC/DC電源，直流充電樁電源模塊等)、電機控制板。
? 檢測能力：低壓AC/DC電源：單相Max輸入電壓/功率為 300V/3KVA；Max輸出電壓/功率：80V/1000W；低壓DC/DC電 源：Max輸入電壓/功率為80V/1.2KW；Max輸出電壓/功率： 80V/1000W；直流充電樁電源模塊：三相Max輸入電壓/功率為 500V/30KVA；Max輸出電壓/功率：700V/30KW；電機控制板： 直流輸入電壓/功率100V/5KW
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
(3) 檢測項目：元器件應力測試
? 覆蓋產品：開關電源(例如低壓AC/DC電源，低壓DC/DC電源，直流充電樁電源模塊等)、電機控制板、鋰電保護板。
? 檢測能力：Max峰值電壓：1.5KV；Max有效值/峰值電流：30A/50A；High溫度：260°C
? 執行標準：元器件規格，客戶要求等
(4) 檢測項目：電氣/抗電強度測試
? 覆蓋產品：電子電氣產品
? 檢測能力：交流耐壓范圍：(0~5)KV/40mA；直流耐壓范圍：(0~6)KV/9999uA
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
(5) 檢測項目：絕緣電阻測試
? 覆蓋產品：電子電氣產品
? 檢測能力：(100~1K)Vdc/9999mΩ
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
(6) 檢測項目：接地電阻測試
? 覆蓋產品：電子電氣產品
? 檢測能力：30A/600mΩ
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
(7) 檢測項目：低溫測試
? 覆蓋產品：電子電氣產品
? 檢測能力：Mini溫度：-70℃
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
(8) 檢測項目：高溫測試
? 覆蓋產品：電子電氣產品
? 檢測能力：High溫度：~180℃
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
(9) 檢測項目：高加速壽命/應力測試
? 覆蓋產品∶電子電氣產品
? 檢測能力∶溫度范圍∶（-100～+200）℃℃;溫度上升速率∶平均（70°～100°）C/m; 加速∶（5-60）gRMS （空臺）
? 執行標準∶國標，IEC，客戶要求等
(10) 檢測項目：靜電放電抗擾度測試
? 覆蓋產品∶電子電氣產品
? 檢測能力∶接觸靜電放電電壓范圍∶（±2～±8）KV空氣靜電放電電壓范圍∶（±2～±25）KV
? 執行標準∶國標，IEC，客戶要求等
(11) 檢測項目：雷擊浪涌抗擾度測試
? 覆蓋產品∶電子電氣產品
? 檢測能力∶1.2/50us綜合波的開路電壓范圍∶（0.25～10）KV; 10/700us通訊波的開路電壓范圍∶（0～6）KV;輸出阻抗∶ 1.2/50us綜合波2Ω、12Ω和500Ω;10/700us通訊波15Ω和40Ω
? 執行標準∶國標，IEC，客戶要求等；
(12) 檢測項目：電源端子騷擾電壓/傳導測試
? 覆蓋產品：電子電氣產品
? 檢測能力：9KHz~ 30MHz
? 執行標準：國標，IEC，客戶要求等
四、可靠性測試·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
(1) 檢測項目：功率循環齷 (PC)
? 覆蓋產品∶IGBT模塊
? 檢測能力∶△Tj=100℃電壓電流Max1800A，12V
? 執行標準∶ IEC 客戶自定義
(2) 檢測項目：高溫門極試驗(HTGB)
? 覆蓋產品∶MOSFET、SiC MOS等單管器件
? 檢測能力∶溫度High150℃;電壓High2000V
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(3) 檢測項目：低溫工作壽命試驗(LTOL)
? 覆蓋產品∶MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力∶溫度Mini-80℃ 電壓High2000V
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(4) 檢測項目：低溫儲存試驗(LTSL)
? 覆蓋產品∶ MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品
? 檢測能力∶溫度Mini-80℃
? 執行標準∶ 美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(5) 檢測項目：高低溫循環試驗(TC)
? 覆蓋產品∶MOSFET、IGBT、IDIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品
? 檢測能力∶溫度范圍∶-80℃~220℃
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(6) 檢測項目：穩態功率試驗(SSOL)
? 覆蓋產品∶MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力∶△Tj≥100℃，電壓電流Max48V，10A
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(7) 檢測項目：無偏壓的高加速應力試驗(UHAST)
? 覆蓋產品∶MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等產品及其他電子產品
? 檢測能力∶溫度130℃ 濕度85%
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(8) 檢測項目：預處理試驗(Pre-con)
? 覆蓋產品∶所有SMD類型器件
? 檢測能力∶設備滿足各個等級的試驗要求
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(9) 檢測項目：高溫反偏試驗(HTRB)
? 覆蓋產品∶MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR，第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力∶溫度High150℃; 電壓High2000V
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(10) 檢測項目：高溫工作壽命試驗(HTOL)
? 覆蓋產品∶MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力∶溫度High150℃，電壓High2000V
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(11) 檢測項目：高溫儲存試驗(HTSL)
? 覆蓋產品∶ MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品
? 檢測能力∶溫度High150℃;
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(12) 檢測項目：高溫高濕試驗(THB)
? 覆蓋產品∶MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、IGBT模塊、第三代半導體器件等產品及其他電子產品
? 檢測能力∶溫度High180℃ 濕度范圍∶10%~98%
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(13) 檢測項目：間歇壽命試驗(IOL)功率循試驗(PC)
? 覆蓋產品∶MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力∶△Tj≥100℃ 電壓電流Max48V，10A
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(14) 檢測項目：高加速應力試驗(HAST)
? 覆蓋產品∶ MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等產品及其他電子產品
? 檢測能力∶ 溫度130℃/110℃ 濕度85%
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(15) 檢測項目：高溫蒸煮試驗(PCT)
? 覆蓋產品∶ MOSFET、DIODE、BJT、IGBT及第三代半導體器件等產品及其他電子產品
? 檢測能力∶溫度121℃ 濕度1
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(16) 檢測項目：潮氣敏感度等級試驗(MSL)
? 覆蓋產品∶所有SMD類型器件
? 檢測能力∶設備滿足各個等級的試驗要求
? 執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
(17) 檢測項目：可焊性試驗(Solderability)
? 覆蓋產品∶ MOSFET、IGBT、DIODE、BJT、SCR、IC、第三代半導體器件等單管器件
? 檢測能力∶有鉛、無鉛均可進行
執行標準∶美軍標，國標，JEDEC，IEC，AEC，客戶自定義等
五、其它測試·Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA
Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA：“華則檢測”專業的第三方檢測機構。具有CNAS和CMA認證資質，擁有多個設備、專業人員、制度規范的大型綜合“第三方公正檢測實驗單位”，對外提供檢測測試和驗證等服務。
Mosfet檢測試分析_**_華則檢測第三方實驗室CNAS/CMA：“華則檢測”主要業務包含功率器件參數檢測、半導體可靠性檢測、半導體環境老化試驗分析、應用級系統分析、半導體失效分析、車用分立器件可靠性測試認證、車用功率模塊可靠性測試認證、力學實驗、氣候環境實驗等領域，
