Avaatech XRF Core Scanner 技術：可靠、快速和無損分析
XRF（X 射線熒光）巖芯掃描儀最初設計用于快速、無損地測定、海洋和湖泊沉積物的化學成分。例如，這種沉積物材料通常使用箱形巖心、重力巖心和活塞巖心獲得，并收集在塑料管中，隨后在長度上分開，提供的沉積物表面，以使用 Avaatech XRF Core 分析其整體地球化學掃描器。除了此類沉積巖芯材料外，Avaatech XRF 巖芯掃描儀還用于其他各種材料，只要它們具有相對平坦的表面，例如珊瑚板、巖芯、貝殼材料、沉積物過濾器和松散的沉積物材料在樣品杯中。Avaatech XRF Core Scanner 的分析通常在陸地實驗室進行。
XRF 分析方法使用 X 射線源和檢測器準確定位在樣品表面上方。X 射線管產生的 X 射線照射樣品。樣品中存在的元素發射具有離散能量的熒光 X 射線輻射，這些能量是樣品材料中元素的特征。測量能量和強度可以確定存在哪些元素以及存在多少元素。的 Avaatech XRF Core Scanner 型號配備了 100W 銠 (Rh) X 射線管和立方硅漂移探測器。的檢測器包含一個集成在檢測器晶體上的低容量前置放大器，與老一代檢測器相比，它可以在較短的峰值時間內提高光譜分辨率。
XRF 巖心掃描儀能夠在幾分鐘內以 1 厘米的樣品分辨率對一米長的巖心中的主要元素進行完整掃描。當然，這取決于用戶的目標。內部開發的軟件可以輕松調整設置以滿足用戶的預期目標。例如，為了可靠地測量微量元素，可以適當調整計數次數和能量設置。另一方面，如果需要非常高的分辨率，可以很容易地將分辨率調整到 0.1 毫米的數據密度。核心掃描儀配備了一個電機驅動的門，可以訪問核心定位系統。的核心定位系統允許同時定位三個長達 1520mm的核心。
Avaatech Core Scan 技術和進步
的第六代 Avaatech Core Scanner 配備了的可變光學 XRF 系統。使用 Avaatech 光學系統，可以獨立確定 X 射線束的長度和寬度。被輻照樣品區域的長度（在下芯方向）可以在 10 到 0.1mm 之間變化，而在橫向芯方向上的輻照長度可以在 12 到 0.1mm 之間變化。帶狹縫的精密 Avaatech 光學系統可防止檢測來自被照射樣品區域外部的 X 射線輻射（通過 XRF 方法固有的元素的二次熒光產生），否則會導致分辨率的不良下降。
Avaatech XRF Core Scanner 使用帶銠陽極的 100W X 射線管生成 X 射線，用于激發樣品中的元素。一代（第六代）Avaatech XRF 巖心掃描儀使用立方體硅漂移探測器，該探測器包含集成在探測器晶體上的低容量前置放大器，與老一代探測器相比，可在較短的峰值時間內提高光譜分辨率。這允許使用 Avaatech Core Scanner 可靠地檢測從鈉 (Na) 到鈾 (U) 的元素。的是，整個光學系統都用氦氣沖洗，以實現對輕元素的出色檢測；這是許多競爭核心掃描儀所缺乏的功能，導致這些競爭掃描儀對輕元素的分析相對較差。請注意，如果用戶主要關注較重的元素并且可以在軟件中輕松打開或關閉 He 沖洗，則無需進行這種 He 沖洗。為了來自樣品表面的分析信號，測量單元將與樣品表面輕輕接觸，從而產生 Avaatech Core Scanner 的分析結果樣品表面覆蓋有一層對 X 射線高度透明的薄箔，以防止免受污染，同時還可以防止長時間測量過程中沉積物巖芯脫水。
易于使用的軟件和的硬件
Avaatech Core Scanner 易于操作，無需專業知識即可進行常規分析，同時機器只需非常有限的維護。Avaatech Core Scanner 提供的數據處理軟件分析也不需要太多的用戶專業知識。可以毫不費力地遵循該過程的每一步。在測量沉積物巖芯或其他樣品后，用戶可以在幾分鐘內獲得處理后的數據。
定期與用戶聯系有助于我們獲得反饋，我們可以利用這些反饋來進一步開發我們的掃描儀。連同技術改進，這使 Avaatech 能夠提供的設備并預測研究的新發展。與荷蘭海洋研究所 (NIOZ) 的研究人員密切合作，不斷進行研究和開發，臺 XRF 核心掃描儀就是在那里開發和建造的。
Avaatech 開發了質量的可靠核心掃描儀，30 多年來被的研究人員使用。Avaatech 用戶通常稱贊 Avaatech 成員幫助用戶的熱情和決心。提供的服務和價值是 Avaatech 的首要任務。
磁化率
MS2 磁化率計是一種測量范圍廣、分辨率高的儀器。它可以測量高達 26 SI（體積）的磁化率，有效分辨率為 2 x 10-6 SI，測量周期可選擇低至 0.1s。MS2 儀表/MS2E 點測量通過 Avaatech 核心掃描儀軟件控制，使用與 XRF 測量類似的用戶界面，操作簡單。
光學成像系統
包含三個 CMOS 傳感器和一個分束器。Jai LT-400 CL-F 使用 630nm、535nm 和 450nm 的 RGB 通道，具有的通道分離。它有 3x 4096 像素，7 微米像素，每個單獨的像素都在白色陶瓷參考瓷磚上校準。線掃描相機不僅可以生成巖心的高分辨率彩色圖像（允許對沉積物顏色進行存檔），還可以將數據用于進一步基于顏色的沉積物分析和巖心相關性。
相機通過易于操作的軟件進行控制。成像軟件可用于指示樣品表面的感興趣位置，隨后可使用 XRF 直接測量這些位置。
光源可以替換為 380 nm 紫外光源，從而可以對珊瑚、石筍、貝殼和碳酸鹽核等進行紫外發光測量。
包括：
相機支架
? 特殊校準臺
? 計算機硬件相機
? 27 英寸第二臺顯示器
? 紫外光專用設備
? 移動相機進行紫外發光成像的慢速驅動器
? 高頻線性照明系統
? 交叉核心圖像覆蓋范圍為 100 毫米
? 下芯圖像，掃描速度為 1 分鐘/米
? 在參考白色表面上進行單獨的 CCD 像素校準
? 聚焦掃描功能，便于聚焦調整
? 掃描過程中的實時圖像校準
? 生命圖像和 RGB 直方圖掃描期間的屏幕
? 以 BMP、TIF 和 JPG 格式輸出圖像
? 以包含 RGB 數據和 CIE-l*a*b* 數據的 ASCII 顏色輸出
取芯器
切芯機專為高質量劈開塑料內襯芯而設計。縱向分割機構由電動機自動操作。
將使用兩個帶鉤的刀片切割壁厚達 2 毫米的軟襯里。
可以使用 2 個旋轉羅盤鋸（可以精確設置以切入內襯的一部分）和完成切割的鉤狀刀片的組合來切割較厚的壁襯。這些切割技術可以忽略不計地用塑料切割廢料污染樣品。因此，可以獲得干凈的芯表面。“切割線”用于手動分割松散的芯材。
截圖：
Avaatech高精度XRF巖心元素掃描儀包括主機軌道搭載系統、高精度XRF化學元素測量子系統、彩色掃描相機、磁化率測試系統和高性能計算機和軟件。
技術規格：
U型槽 | 具備U型槽 |
固定器 | 可放置巖心直徑為30–145 mm、單個巖心長度1520 mm的分離式巖心；一次性可放置三根巖心即長度可達4560 mm（三根巖心）； |
占地面積 | 主機占地面積2.6 m2；（高1780mm；寬3000mm；進深850mm） |
步進精度 | 測量模塊移動步進精度0.005 mm； |
高精度XRF化學元素測量子系統 | 能夠記錄Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Sc, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Ga, Ge, As, Se, Br, Rb, Sr, Y, Zr, Nb, Mo, Cd, In, Sn, Sb, Te, Cs, Ba, La, Ce, Pr, Nd, Pb, U 即Na–U之間所有元素特征，保證能量分辨率在5.9keV時為133eV； |
分辨率 | 測試巖心（順巖心方向）的分辨率0.1mm，可按照操作者需求在（0.1–10）mm之間任意調節； |
電動控制狹縫系統 | 具備電動控制狹縫系統（CCG），非接觸測量，并且防止破壞巖心； |
氦氣 | 使用氦氣來消除空氣對測量的影響，氦氣供給速度為25 ml/分鐘； |
放射性 | 放射性0.09 usv/hr； |
探頭距離巖心表面的工作距離 | 0.1 mm； |
探測有效面積 | 41 mm2； |
X射線源 | 具備具有冷卻功能的X射線源，帶銠陽極，電壓范圍50kV，電流范圍2 mA，額定功率100 W，工作壽命20000小時； |
探測器晶體厚度 | 450 μm的硅漂移探測器； |
檢測器的窗口厚度 | 1000 nm |
光學成像系統 | 4K及以上相機（高分辨率），分辨率25 μm； |
除常規燈（RGB）以外，配備紫外線燈專用裝置，從而可以對珊瑚、石筍、貝殼和碳酸鹽礦物等進行紫外發光測量，能夠有效識別巖心中的碳酸鹽礦物和其他特殊礦物 | |
包含三個 CMOS 傳感器和一個分束器 | |
帶有相機支架和專用校準臺，掃描相機配置27寸顯示器； | |
配置移動相機進行紫外線發光成像的慢速驅動器，具備對焦掃描功能；掃描圖片以BMP、TIF和JPG格式輸出，包含RGB數據CIE-lab數據的顏色輸出。 | |
磁化率測試系統 | XRF配備磁化率測試功能，可測量26SI（體積）的磁化率，有效分辨率為2*10-6SI，測量周期為0.1 s。 |
