高速·絕緣&多通道的測試系統用記錄儀（機架組裝型）
● 24bit高分辨率的數字電壓表單元MR8990新上市！不需要掃描儀即可實現高速高精度測量。
● 適用于多通道的測試（MR8740：54ch，MR8741：16ch）
● 絕緣輸入（各輸入通道間、外殼間絕緣：對地額定電壓AC、DC300V）
● 高速采樣（20MS/s，54ch型32ch同時采樣）
● 適合組裝在機架中（高4U·180mm以內，無顯示屏，長方形）
● 通過LAN通訊進行遠程測量（數據傳輸至內存，在遠離測量處的地方進行計算機操作）
基本參數
| 型號 | MR8740 | MR8741 |
|---|---|---|
| 通道數 | [模塊I：模擬單元16個]模擬32ch+邏輯標準8ch~ [模塊I：模擬單元13個+邏輯單元3個]模擬26ch+邏輯56ch（邏輯標準8ch+邏輯單元48ch） [模塊II：模擬單元11個]模擬22ch+邏輯標準8ch~ [模塊II：模擬單元8個+邏輯單元3個]模擬16ch+邏輯56ch（邏輯標準8ch+邏輯單元48ch） ※ 模塊I和模塊II的2個模塊構成 ※ 模塊I和模塊II通過同步觸發同時開始（內部設置） | [模擬單元8個]模擬16ch+邏輯標準16ch~ [模擬單元5個+邏輯單元3個]模擬10ch+邏輯64ch（邏輯標準16ch+邏輯單元48ch） |
| ※模擬單元的通道間和主機間絕緣，所有邏輯單元的通道和標準邏輯端口的通道和主機共地 | ||
| 測量量程 (20div滿量程) | 5mV~20V/div，12檔量程，分辨率：量程的1/100 (使用8966時) 5mV~50V/div，5檔量程，分辨率：量程的1/50000 (使用MR8990時) | |
| 輸入電壓 | DC 400V（使用8966時，輸入端口間的安全電壓） | |
| 對地額定電壓 | AC，DC300V（輸入和主機間絕緣，輸入通道~外殼間，各輸入通道間的上限電壓） | |
| 頻率特性 | 使用8966時：DC~5MHz (-3dB) | |
| 時間軸 (存儲時) | 5μs~5min/div，26檔量程，時間軸分辨率100點/div，時間軸放大：×2~×10的3段，縮小：1/2~1/20,000的13段 | |
| 測量功能 | 存儲（高速記錄），FFT | |
| 存儲容量 | 16MW/ch（固定），共864MW | 16MW/ch（固定），共256MW |
| 外部存儲 | U盤（USB2.0） | |
| 顯示部分 | 無（數字DVI端口，各模塊1個，800× 600點） | 無（數字DVI端口1個，800× 600點） |
| 外部接口 | [LAN] 100BASE-TX(DHCP，適用DNS，FTP服務器，HTTP服務器) [USB]USB2.0系列A插座×2（鼠標操作） | |
| 電源 | AC100~240 V, 50/60 Hz (250 VA max.) | AC100~240 V, 50/60 Hz (120 VA max.) |
| 體積及重量 | 426W × 177H × 505D mm, 10.8 kg (僅主機) | 350W × 160H × 320D mm, 5.4 kg (僅主機) |
| 附件 | 使用說明書×1，應用光盤（波形查看Wv/通訊指令表）×1，電源線×1 | |
Recorder for high speed, insulation & multichannel test system (rack assembled type)
24bit high resolution digital voltmeter unit MR8990 new on the market! High speed and high precision measurement can be achieved without scanner.
For multi-channel testing (mr8740:54ch, mr8741:16ch)
Insulation input (insulation between input channels and enclosure: maximum rated voltage AC and DC300V to the ground)
High-speed sampling (maximum 20MS/s, 54ch maximum 32ch simultaneous sampling)
Suitable for assembly in the frame (height: 4U·180mm, no display, rectangular)
Remote measurement via LAN communication (data transfer to memory, computer operation away from the measurement)
