半導體推力測試儀優(yōu)化了測試模塊，適應不同類型測試環(huán)境的能力，保證了同一測試模塊在不同主機上工作地測試數據得可靠性、以及一致性。半導體推力測試儀所有測試傳感器均采用自動量程設計，全量程分辨率一致，客戶不用在測試之前對軟件進行復雜耗時地擋位設置。所有測試傳感器模塊均采用垂直位移定位技術，確保測試的狀態(tài)可靠，定位地動作快速?？煞胖玫米笥覔u桿控制器，操作舒適得搖桿控制器。芯片封裝測試設備焊點推拉力測試儀
設備特點
1.所有傳感器采用高速動態(tài)傳感及高速數據采集系統，確保測試數據的準確無誤。芯片封裝測試設備焊點推拉力測試儀
2.采用公司研發(fā)的高分辨率(24 BitPlus超高分辨率)的數據采集系統。
3.采用公司的安全限位及安全限速技術，讓操作得心應手。
4.采用公司的智能燈光控制與調節(jié)系統，減少光源對視力的損傷。
5.標配高清觀察顯微鏡，減少人員視覺疲勞。
6.雙搖桿四向操作及人性化的軟件配置使操作簡單、方便。
7.結合人體學的設計，讓使用更加舒適。
8.設備的保護措施，避免因人員誤操作對設備的損壞。
9.強大的研發(fā)實力，根據客戶的需求提供訂制化產品。
10.貼心的售后服務，讓使用人員無后顧之憂。
測試模塊范圍：
推力測試-金球/晶片 | 測試范圍 | 拉力測試-焊線 | 測試范圍 |
BS250G | 25g、50g、100g、250g | WP25G | 2.5g、5g、10g、25g |
BS1KG | 100g、250g、500g、1kg | WP50G | 5g、10g、25g、50g |
DS5KG | 500g、1kg、2.5kg、5kg | WP100G | 10g、25g、50g、100g |
DS10KG | 2.5kg、5kg、7.5kg、10kg | WP200G | 25g、50g、100g、200g |
DS20KG | 2kg、4kg、10kg、20kg | WP1KG | 100g、250g、500g、1kg |
DS50KG | 10kg、20kg、40kg、50kg | WP5KG | 500g、1.25kg、2.5kg、5kg |
DS100KG | 10kg、20kg、50kg、100kg | WP10KG | 1kg、2.5kg、5kg、10kg |
DS200KG | 20kg、40kg、100kg、200kg | WP20KG | 2.5kg、5kg、10kg、20kg |
壓力測試 | 測試范圍 | 鑷拉力測試 | 測試范圍 |
PP100G | 10g、25g、50g、100g | TP100G | 10g、25g、50g、100g |
PP5KG | 500g、1.25kg、2.5kg、5kg | TP1KG | 100g、250g、500g、1kg |
PP50KG | 5kg、10kg、25kg、50kg | TP5KG | 500g、1.25kg、2.5kg、5kg |
可根據客戶需求，定制不同量程測試模塊 | |||
測試參數
設備型號: LB-8100A
外形尺寸: 650mm*600mm*760mm(含左右操作手柄）
設備重量: 約 80KG
電源供應： 110V/220V@3.0A 50/60Hz
氣壓供應： 4.5-6Bar
控制電腦： 聯想/惠普原裝 PC
電腦系統： Windows7/Windows10 正版系統
顯微鏡： 標配高清連續(xù)變倍顯微鏡（可選配三目顯微鏡+高清 CCD 相機）
傳感器更換方式： 手動更換（根據測試需要選擇相應的測試模組，軟件自動識別模組量程）
平臺治具： 360 度旋轉，平臺可共用各種測試治具
XY 軸絲桿有效行程：100mm*100mm 配真空平臺可拓展至 200mm*200mm，測試力 200KG
XY 軸移動速度： 采用霍爾搖桿對 XY 軸自由控制，移動速度為 6mm/S
XY 軸絲桿精度： 重復精度±5um 分辯率≤0.125 ；2mm 以內精度±2um
Z 軸絲桿有效行程： 100mm 分辯率≤0.125um，測試力 20KG
Z 軸移動速度： 采用霍爾搖桿對 Z 軸自由控制，移動速度為 8mm/S
Z 軸絲桿精度： ±2um 剪切精度：2mm 以內精度±1um
傳感器精度： 傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%
設備治具： 根據樣品或圖紙按產品設計治具（出廠標配一套）
設備校正： 設備出廠標配相應校正治具及砝碼一套
質量保證： 設備整機質保 2 年，軟件升（人為損壞不含）
