產品介紹
| 產地類別 | 國產 |
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本原納米 BY3000原子力顯微鏡
儀器介紹：
性能*
原子級分辨率和穩(wěn)定度
大樣品腔設計，適應性強
主控制系統(tǒng)采用德州儀器(TI)32位高性能數(shù)字信號處理器(DSP}
高壓掃描驅動采用APEX集成高壓運算放大器
主控制系統(tǒng)內置實時操作系統(tǒng)
系統(tǒng)采用快速以太網接口(Fast Ethernet)與計算機連接
功能強大
原子力顯微鏡(AFM)
掃描隧道顯微鏡(STM)
橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM)
I-V，I一Z、力一距離等多種曲線測量分析
在線實時三維圖像顯示，檢測過程可即時得到更直觀的形貌和豐富的細節(jié)
多通道信號同時采集和顯示，一次掃描即可同時得到樣品多種性質與特征
具有圖像及曲線數(shù)據(jù)導出功能，可取得全部原始數(shù)據(jù)
探針表征和圖像重建功能(針尖形貌估算/圖像重建/用已知探針重建圖像)
本原納米 BY3000原子力顯微鏡
操作簡便
全程全自動進針，無需手工粗調
只需更換探針架，即可在STM和AFM等不同類型儀器中切換
全數(shù)字控制，儀器類型、系統(tǒng)狀態(tài)等參數(shù)智能識別和控制
軟件控制樣品移動
當前全部工作環(huán)境參數(shù)和掃描圖像同步保存
樣品粒度和粗糙度自動分析功能，可得到國家、國際相關標準的全系列參數(shù)
服務完善
業(yè)內800免費技術支持
業(yè)內南北(京廣)均設有機構，為用戶提供最貼身的服務
專家級的技術支持、服務團隊
長期以優(yōu)惠的價格向用戶提供全系列探針
技術指標
系統(tǒng)功能
原子力顯微鏡(Atomic Farce Microscope, AFM )‘
橫向力/摩擦力顯微鏡(Lateral Force Microscope, LFM )‘
掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope, 5TM )’
分辨率
掃描隧道顯微鏡(S丁M):：橫向0.1 nm,垂直0.01 nm
原子力顯微鏡}AFM)：橫向0.2nm.垂直0.1 nm
參數(shù)性能
x 一y 掃乎苗范圍：~10μm
Z方向掃描范圍：~2μm
圖像分辨率：128x1 28 , 256x256, 512x512, 1024x1024
掃描角度：0~360°
掃描頻率：0.1~100Hz
主控制系統(tǒng)
處理器：德州儀器(TI) 32位數(shù)字信號處理器(DSP)
高速16-bit DAC
高速16-bit ADC
高壓掃描驅動：5路APEX集成高壓運算放大器
通信接口： 1 0M/ 100M 快速以太網(Fast Ethernet 10/100)接口
機械性能
樣品尺寸:可達直徑45mm，厚度15mm
全自動步進電機控制進樣系統(tǒng):行程15mm，定位精度50nm/步
軟件系統(tǒng)
基干Windows XP/2000/9X 的在線控制軟件和圖像處理軟件
