?J-Ras離子遷移試驗裝置ECM-500
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設備簡介：
?離子遷移實驗裝置是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（BIAS VOLTAGE），
經過長時間的測試（1～1000 小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄阻抗變化狀況，故又
叫做 CAF 試驗或絕緣電阻試驗箱，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
性能優勢：
?1.具備高、低電壓測試自動切換功能，電壓穩定，精度高（±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V (計測偏壓精度)）
2.各通道可以獨立設定不同電壓
3.每個通道均有電流過載保護，可保護設備及測試樣品
4.模組化設計，輕便，占地小，易維護
5.TRIAXIAL三重隔離線設計，可有效屏蔽干擾信號
6.可以搭配恒溫恒濕箱、快速溫變箱（有濕度）、高加速試驗箱HAST測試使用。
? Specitications規格參數 項目 規格·性能·其他 框 型式 ECM-500/40-n (n:Channel數) ECM-500/100-n (n:Channel數) 筐體型式 40CH 型(4計測組合) 100CH型 （10計測組合） 筐體寸法 265Wx330.3Dx405H(突起部除外) 417.4Wx330.3Dx405H(突起部除外) 計 計測電阻值范圍 2kΩ~20TΩ 直流偏壓輸出 電壓范圍 2組范圍 （1.0~50.0V, 50.5~500.0V） 輸出電流 700ua/ch 可調度 0.05V（1～50V）、0.5V（50.5～500V） 直流偏壓量測 計測范圍 2組范圍 （1~54V, 55~540V） 計測分解能 0.1V~（整數+小數點以下1行表示） 量測速度 50msec/CH 電流計測 計測能力 5組范圍 （1000uA, 50uA, 2.5uA, 125nA, 6.25nA） 異常偵測能力 偵測速度 小于100us CPU 數據收錄 試驗制御單位 1 組 （5CH） 收錄間隔（定期） 1分~60分
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組
合
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