產品規格
型號D25 NC
測量方式非接觸式偵測，可程控轉盤、高速掃瞄5次/測量
光學系統0°/30°反射式、雙光束回授
分光接收器《密封光學元件》精密光柵分光系統，256點矩陣式矽光接收器
光譜範圍400...700nm
解析度<3nm、帶寬10nm
光度範圍0...150%
再現性?E*≤0.03 (Avg) CIE L*a*b* @標準白板
偵測區域∅25.4mm
距離測口3.5"處、免接觸
高度偵測物件高度自動補償
可自定測量位置
測量範圍65...140mm
解析度1mm
標準光源全波長發光二極體(LED)
連接埠USB2.0/3.0
電源供應100-240VAC
產品簡介
D25 NC 結合自動轉盤及非接觸式測量，以每秒5 次高速偵測，旋轉一圈掃瞄25 次、總面積高達129cm2。適合測量體型較大、形狀不規則、顏色不均勻之樣本，例如：洋芋片、玉米片、咖啡豆、豆類、餅乾、塑膠粒、建材、藥丸、調味料、飼料、花生、烘焙製品、肉類、粉末、零食、麵包、堅果、碎石、礦物、冷凍食品、化工業... 等。樣本分析量大、取樣率高，使得平均數據更具代表性，再現性高。(d25nc, d25 nc)
0°/30° 反射式光學系統，評測結果與肉眼接近，結構採用密閉式設計，清潔保養容易，不論生產現場、實驗室皆可使用。此外，D25 NC 具備智慧型「物件高度」辨識功能，當偵測色彩時能同時分析樣本高度、並自動完成補償，使色彩讀值不致因高度差異而有所不同；此外還能自動忽略樣本盤底色，只針對樣品本身準確測量！
產品特色
0°/30° 系統，光學評價與肉眼
非接觸式每秒高速測量 5 次，樣本盤旋轉一圈之掃瞄面積高達129cm2 (一圈掃瞄 25 次)，提高取樣率、因此再現性
同時精確偵測顏色及測量物件高度，並作自動補償，不因高度或位置而有所誤差、並可自動忽略樣本盤底色
適合不規則、體型大、顏色不均勻之樣本
樣本盤旋轉啟動與停止，可透過程式控制
LED 光源提供均勻穩定可見光譜，壽命長
體積小不佔空間，密閉光學系統維護容易
USB 可外接印表機、條碼掃瞄器、電腦...
可儲存 250 組設定、2000 筆讀值數據
單機即可作業，可相容 EasyMatch QC
EasyMatch QC 軟件可分析多種色彩參數、統計資料、光譜圖... 可自定報表、儲存數據、輸出 Excel產品規格
型號D25 NC
測量方式非接觸式偵測，可程控轉盤、高速掃瞄5次/測量
光學系統0°/30°反射式、雙光束回授
分光接收器《密封光學元件》精密光柵分光系統，256點矩陣式矽光接收器
光譜範圍400...700nm
解析度<3nm、帶寬10nm
光度範圍0...150%
再現性?E*≤0.03 (Avg) CIE L*a*b* @標準白板
偵測區域∅25.4mm
距離測口3.5"處、免接觸
高度偵測物件高度自動補償
可自定測量位置
測量範圍65...140mm
解析度1mm
標準光源全波長發光二極體(LED)
連接埠USB2.0/3.0
電源供應100-240VAC
產品簡介
D25 NC 結合自動轉盤及非接觸式測量，以每秒5 次高速偵測，旋轉一圈掃瞄25 次、總面積高達129cm2。適合測量體型較大、形狀不規則、顏色不均勻之樣本，例如：洋芋片、玉米片、咖啡豆、豆類、餅乾、塑膠粒、建材、藥丸、調味料、飼料、花生、烘焙製品、肉類、粉末、零食、麵包、堅果、碎石、礦物、冷凍食品、化工業... 等。樣本分析量大、取樣率高，使得平均數據更具代表性，再現性高。(d25nc, d25 nc)
0°/30° 反射式光學系統，評測結果與肉眼接近，結構採用密閉式設計，清潔保養容易，不論生產現場、實驗室皆可使用。此外，D25 NC 具備智慧型「物件高度」辨識功能，當偵測色彩時能同時分析樣本高度、並自動完成補償，使色彩讀值不致因高度差異而有所不同；此外還能自動忽略樣本盤底色，只針對樣品本身準確測量！
產品特色
0°/30° 系統，光學評價與肉眼
非接觸式每秒高速測量 5 次，樣本盤旋轉一圈之掃瞄面積高達129cm2 (一圈掃瞄 25 次)，提高取樣率、因此再現性
同時精確偵測顏色及測量物件高度，並作自動補償，不因高度或位置而有所誤差、並可自動忽略樣本盤底色
適合不規則、體型大、顏色不均勻之樣本
樣本盤旋轉啟動與停止，可透過程式控制
LED 光源提供均勻穩定可見光譜，壽命長
體積小不佔空間，密閉光學系統維護容易
USB 可外接印表機、條碼掃瞄器、電腦...
可儲存 250 組設定、2000 筆讀值數據
單機即可作業，可相容 EasyMatch QC
EasyMatch QC 軟件可分析多種色彩參數、統計資料、光譜圖... 可自定報表、儲存數據、輸出 Excel
